一种采用功率模块并联的脉冲大电流输出电路

    公开(公告)号:CN104660090A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201510084926.8

    申请日:2015-02-16

    Abstract: 本发明公开一种采用功率模块并联的脉冲大电流输出电路,该电路包括:信号产生单元,用于产生脉冲电压信号;放大单元,用于放大脉冲电压信号,生成脉冲高压信号;转换单元,用于采用功率模块并联的方式将脉冲高压信号转化为脉冲大电流信号。本发明所述技术方案采用信号产生单元产生频率可调标准脉冲信号,经过放大转换形成脉冲大电流,稳流单元进行调节控制,提高了输出波形的稳定性,输出电流精度高;且采用功率模块并联技术,筛选功率模块并附加调节电阻实现大电流稳定输出,增加了脉冲电流电路的输出电流幅值。

    用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆

    公开(公告)号:CN102590568B

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201210040027.4

    申请日:2012-02-20

    Inventor: 朱珠 康焱

    Abstract: 本发明公开了一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆,包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒,屏蔽筒内设置有超导阵列结,连接杆内设有同轴电缆A和同轴电缆B;同轴电缆A上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口低端相连接,同轴电缆A下端头的线芯与超导阵列结电压输出高端相连接,同轴电缆A下端头的屏蔽层与超导阵列结电压输出低端相连接;同轴电缆B上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口高端相连接,同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接;同轴电缆A上端头的屏蔽层与同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。本发明解决了在低温环境下测试探杆在交流电压的测量中由于温差热电势而影响测量结果不确定度的问题。

    用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆

    公开(公告)号:CN102590568A

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN201210040027.4

    申请日:2012-02-20

    Inventor: 朱珠 康焱

    Abstract: 本发明公开了一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆,包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒,屏蔽筒内设置有超导阵列结,连接杆内设有同轴电缆A和同轴电缆B;同轴电缆A上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口低端相连接,同轴电缆A下端头的线芯与超导阵列结电压输出高端相连接,同轴电缆A下端头的屏蔽层与超导阵列结电压输出低端相连接;同轴电缆B上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口高端相连接,同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接;同轴电缆A上端头的屏蔽层与同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。本发明解决了在低温环境下测试探杆在交流电压的测量中由于温差热电势而影响测量结果不确定度的问题。

    一种用于直流量子小电压的驱动方法、系统及控制器

    公开(公告)号:CN112763768B

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202011517649.2

    申请日:2020-12-21

    Inventor: 朱珠

    Abstract: 本发明公开一种用于直流量子小电压的驱动方法、系统及控制器,属于电压驱动技术领域;本发明采用微波驱动频率调节,结合偏置电流驱动控制技术,同时改变施加在超导阵列结上的微波驱动信号的频率以及偏置电流驱动的超导阵列结数量,从而得到精确直流量子小电压信号,大大减小了可编程约瑟夫森电压标准输出直流小电压信号(1mV~10mV)时与标称值之间的偏差。

    用于纳伏级直流量子小电压的驱动方法及系统

    公开(公告)号:CN114384307A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202111644623.9

    申请日:2021-12-29

    Inventor: 朱珠

    Abstract: 本发明公开了一种用于纳伏级直流量子小电压的驱动方法及系统。该驱动方法包括:步骤S1:采用两路微波驱动源结合两路偏置电流驱动源同时驱动两路约瑟夫森阵列结;步骤S2:获取直流量子小电压标称值V以及超导结量子电压台阶数n,同时改变施加在两路约瑟夫森阵列结上的微波驱动信号的频率以及偏置电流驱动信号的超导阵列结数量,产生两路量子直流电压信号,并分别记录为V1和V2;步骤S3:利用公式V’=V1‑V2即可计算得到纳伏级直流量子小电压信号V’。本发明的驱动方法可以得到高精确的纳伏级直流量子小电压信号,实现100nV~1mV的量子直流电压信号输出。

    一种用于直流量子小电压的驱动方法、系统及控制器

    公开(公告)号:CN112763768A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202011517649.2

    申请日:2020-12-21

    Inventor: 朱珠

    Abstract: 本发明公开一种用于直流量子小电压的驱动方法、系统及控制器,属于电压驱动技术领域;本发明采用微波驱动频率调节,结合偏置电流驱动控制技术,同时改变施加在超导阵列结上的微波驱动信号的频率以及偏置电流驱动的超导阵列结数量,从而得到精确直流量子小电压信号,大大减小了可编程约瑟夫森电压标准输出直流小电压信号(1mV~10mV)时与标称值之间的偏差。

    一种晶体谐振器测试系统及校准方法

    公开(公告)号:CN109490663B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201811258294.2

    申请日:2018-10-26

    Inventor: 焦玉民 康焱 朱珠

    Abstract: 本申请公开了一种晶体谐振器测试系统,包括频率源、矢量电压表、测试夹具和衰减器,所述频率源和矢量电压表各包括两个输出接口,所述输出接口,用于连接外部标准仪器,进行参数校准,还用于连接测试夹具,形成测试回路,所述频率源,用于产生两路同频同功率激励信号,分别与测试夹具和矢量电压表连接,所述衰减器用于衰减频率源信号,所述矢量电压表,用于测量测试夹具两端矢量信号,所述测试夹具,用于连接待测晶体谐振器。还公开了一种晶体谐振器测试系统校准方法,通过外部标准仪器对频率源和矢量电压表性能测试,经理论修正和系统不确定度分析后,获得系统计量特性。本申请系统结构简单,只增加端口和连接线,不增加系统复杂度,利于推广。

    一种用于量子交流电压系统的低噪声偏置源及使用方法

    公开(公告)号:CN111913020A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202010835445.7

    申请日:2020-08-19

    Inventor: 朱珠

    Abstract: 本发明公开一种用于量子电压系统的低噪声偏置源及使用方法,涉及偏置源技术领域,以解决现有方式量子交流电压上升时间长,影响量子交流电压的准确度的问题。其中低噪声偏置源包括:循环控制模块,与高速D/A阵列电连接,根据接收到的控制信号启动或停止工作;工作时,根据接收到的量子交流电压输出的控制字和驱动高速D/A阵列电压输出的数据列表,循环驱动高速D/A阵列工作;高速D/A阵列,根据控制字和数据列表循环输出驱动信号;电源模块,对循环控制模块和高速D/A阵列供电。减少了量子交流电压的上升时间,降低了上升时间对合成量子交流电压的准确度的影响。

    量子电压标准装置中热功率的主动平衡控制装置及方法

    公开(公告)号:CN109116885A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810972463.2

    申请日:2018-08-24

    Inventor: 焦玉民 康焱 朱珠

    Abstract: 本发明公开了一种量子电压标准装置中热功率的主动平衡控制装置,所述量子电压标准装置包括量子超导芯片,该主动平衡控制装置包括真空罩、制冷单元、温度监测单元、热平衡单元和热连接部件,所述真空罩收容所述量子超导芯片、制冷单元、温度监测单元、热平衡单元和热连接部件;所述制冷单元用于向所述真空罩内提供定量冷量;所述温度监测单元用于监测所述真空罩内的环境温度;所述热平衡单元用于平衡所述真空罩内的温度变化;所述热连接部件作为所述真空罩内的热传导媒介,分别与所述制冷单元、热平衡单元和量子超导芯片连接。

    一种高参数可控性射频超导量子干涉器件和制备方法

    公开(公告)号:CN119421634A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202411393073.1

    申请日:2024-10-08

    Abstract: 本申请公开了一种高参数可控性射频超导量子干涉器件,包括:SQUID芯片,第一基底和其上外延生长的超导薄膜材料,在超导薄膜材料上设置第一环孔,环孔一侧设置微桥结构,微桥外侧设置有第一缝隙;还包括介质谐振器,第二基底和其上外延生长的超导薄膜材料,在超导薄膜材料上设置第二环孔,第二环孔一侧开口形成第二缝隙。SQUID芯片和介质谐振器通过倒装方式面对面粘合封装,第一环孔和第二环孔中心位置相对,第一缝隙和第二缝隙延伸方向角度相差90度。所述的微桥结构辐照离子构成约瑟夫森结。本申请还公开了一种高参数可控性射频超导量子干涉器件的制备方法。本申请旨在解决现有技术中台阶结类型的rf SQUID结参数可控性差、成品率低的问题。

Patent Agency Ranking