超导量子干涉器50Hz工频干扰的消除装置

    公开(公告)号:CN2586170Y

    公开(公告)日:2003-11-12

    申请号:CN02285982.9

    申请日:2002-11-13

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型提供了一种超导量子干涉仪50Hz工频干扰的消除装置。该装置包括一个耦合被测信号得到参考信号的电感线圈,电感线圈与一个放大器连接,放大器与50Hz带通滤波器连接,带通滤波器与一个可以将参考信号的相位反相的相位调节器连接,相位调节器与一个加法器的一个输入端口连接,加法器的另一个输入端供超导量子干涉器的反馈环路接入,加法器的输出端与反馈环路的反馈电阻连接接入反馈环路。本实用新型的干扰消除装置,可以在测量点处,直接把不需要的干扰信号抵消掉,使得这些干扰信号在后继电路中的影响降至最小,从而使得超导量子干涉器得以长时间稳定的工作。

    超导量子干涉仪自动控制接口装置

    公开(公告)号:CN2473670Y

    公开(公告)日:2002-01-23

    申请号:CN01201054.5

    申请日:2001-01-16

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种超导量子干涉仪自动控制接口装置,其特征是采取以MCS51微处理器为核心的多功能电路,此多功能电路包含一个或者两个以上(含两个)完全相同的分电路,每个分电路由单片机与数字模拟(D/A)转换电路、模拟数字(A/D)转换电路和三角波发生器电路相连接组成。本实用新型使对超导量子干涉仪测量装置的操作从手动改为由PC机作主控的自动方式完成,同时还可以通过一台计算机对两台以上(含两个)超导量子干涉仪进行切换控制操作。

    高温超导射频量子干涉仪的探头

    公开(公告)号:CN2667503Y

    公开(公告)日:2004-12-29

    申请号:CN200320102962.5

    申请日:2003-11-11

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型提供了一种高温超导射频量子干涉仪(HTc rf SQUID)的探头,包括由三条不闭合的环线构成的超导薄膜空心共面谐振器、与该空心共面谐振器相分离的超导薄膜磁通聚焦器、SQUID器件、微波耦合环,SQUID器件位于磁通聚焦器上方,空心共面谐振器位于SQUID器件上方,处于SQUID器件和微波耦合环之间。本实用新型的探头,由于空心共面谐振器和磁通聚焦器分离,所以磁通聚焦器的面积可以做得较大,从而可得到更大的有效面积,可提高磁场灵敏度。进一步设计空心共面谐振器的尺寸,该探头可以工作在1.23~1.42GHz频率范围之间,中心频率约为1.3GHz,从而躲开无线通讯频段的干扰。

    间歇式轮转印刷设备上多色喷墨印刷的控制系统

    公开(公告)号:CN202053680U

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN201020700111.0

    申请日:2010-12-30

    Inventor: 黄建梅 杨涛 陈峰

    Abstract: 本实用新型提供一种数码喷墨印刷设备在间歇式轮转设备上进行多色喷墨印刷的控制系统,其中所包括的每个控制装置包括:寄存器堆,存放页面长度和该控制装置控制的成像部件组与基准之间的间距,所述基准为承印体运动方向上最先进行印刷的成像部件组;判断单元,判断当前页是否是第一页;选择开关,当当前页是第一页时选择间距,当当前页不是第一页时选择零;减法器,将寄存器堆中存放的图像长度减去选择开关的选择结果;计数器,进行延迟计数;数据读取单元,当计数器值变为0时获取当前页要印刷的图像数据。本实用新型将数码喷墨印刷技术与传统印刷技术相结合,在增加新工艺的同时,不仅保有了原有传统印刷的生产效率,而且还大大提高了介质材料的利用率。

    超导量子干涉仪计算机接口装置

    公开(公告)号:CN2739694Y

    公开(公告)日:2005-11-09

    申请号:CN200420009337.0

    申请日:2004-09-21

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种超导量子干涉仪计算机接口装置,包括有计算机控制的自动测量装置,该自动测量装置设于超导量子干涉仪和计算机之间,所述自动测量装置的单片机采用AVR单片机,该单片机与所述计算机之间采用USB接口连接。本实用新型的自动测量装置的单片机采用AVR单片机,该单片机与计算机之间采用USB接口连接,自动测量装置与超导量子干涉仪连接处设置有15针插头,该15针插头与超导量子干涉仪上的15针插座对应连接。本实用新型的自动测量装置处理能力将大大提高,其与计算机之间的信息交互将变得快捷,整体处理能力得到加强。

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