-
公开(公告)号：CN118624014A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410884402.6
申请日：2024-07-03
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及光学仪器技术领域，提供一种低发散角依赖的光电探测器及定标系统，其中，低发散角依赖的光电探测器包括第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜，第一光电二极管具有第一光敏平面；第二光电二极管具有第二光敏平面；凹面镜具有相互背离的后平面和前凹面，前凹面朝向第二光电二极管，第一光敏平面和第二光敏平面互成角度设置，后平面与第二光敏平面互成角度设置，以在第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜之间形成光陷阱。本申请实现准直光一次定标响应度即可实现该探测器应用于不同发散角的光测量场景。
-
公开(公告)号：CN108828484B
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN201810516228.4
申请日：2018-05-25
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R33/58
Abstract: 本发明提供了一种磁共振成像仪的质控模体，呈封闭腔体设置的质控模体内包括：时间检控层，所述时间检控层排布多个容纳不同浓度的时间检控液的时间检控球；成像定位层，所述成像定位层设有确定所述质控模体相对于所述磁共振成像仪的位置的定位物体；长度检控层，所述长度检控层开设多个盲孔，所述多个盲孔之间的孔径和/或孔深不同；质子密度检控层，所述质子密度检控层排布多个容纳不同浓度的质子密度检控液的质子密度检控球；扩散检控层，所述扩散检控层排布多个容纳不同浓度的扩散检控液的扩散检控柱；质控模体能够从时间类参数、长度类参数、质子密度类参数以及扩散类参数对磁共振成像仪进行测量控制。
-
公开(公告)号：CN115752547A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211486405.1
申请日：2022-11-24
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种多参量融合标准器及制备方法，包括多个第一校准单元和一个第二校准单元：所述第一校准单元包括设定特性量值的第一涂料，用以校准特性线性度和特性量程；其中，每个所述第一校准单元对应的特性量值不同；所述第二校准单元包括设定形状和特性量值的第二涂料和第三涂料，所述第二涂料和所述第三涂料交替形成目标图案，用以校准面分布测量参数，其中，所述第二涂料的特性量值大于所述第三涂料；多个所述第一校准单元和所述第二校准单元呈阵列分布。本发明设置第一校准单元和第二校准单元，在同一空间位置中设置多种校准单元，能够实现同时和同位置的校准，不会引入系列误差。
-
公开(公告)号：CN115201793A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210745216.5
申请日：2022-06-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明涉及反射探测技术领域，提供一种定标模组及其使用方法，所述定标模组包括：多个观察平面，多个观察平面中至少有两个观察平面所在的平面相交，多个观察平面之间具有确定的空间位置关系；每个观察平面上均设有观察区域，各个观察区域均具有对应的校准后的BRDF值；本发明通过设置多面体状的定标模组，提升了定标模组姿态与光源入射角度测定的准确性，进而提升了待测对象表面的BRDF特性测定的准确性。
-
公开(公告)号：CN109540284B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201811312385.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108106732B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201711248399.5
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种拉曼光谱仪波数分辨率的标定方法及装置，所述方法包括：通过待标定拉曼光谱仪采集高纯氖灯的检测光谱；基于检测光谱计算所述待标定拉曼光谱仪在预设波长处的波数分辨率，并在高纯氖灯的标准光谱上确定预设波长左侧与预设波长最邻近的谱线的第一峰值波长，以及预设波长右侧与预设波长最邻近的谱线的第二峰值波长，计算第一峰值波长与第二峰值波长之间的波数间距；根据预设波长处的波数分辨率与波数间距之间的差值，对待标定拉曼光谱仪在所述预设波长处的波数分辨率进行标定。通过采用高纯氖灯产生的标准光谱对待标定拉曼光谱仪的波数分辨率进行标定，可以同时实现不同预设波长处波数分辨率的多点标定。
-
公开(公告)号：CN109580172A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811312322.4
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，该基片包括：积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板，其中，积分球的底端位于基板上，积分球的顶端处设置第一通孔，若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁，每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路，光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能，依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片，以满足显微成像设备辐射校准需求。
-
公开(公告)号：CN108061601A
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201711249595.4
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供了一种空心阴极灯的波长标定方法及装置，包括：S1，基于修正后的迈克尔逊干涉仪，采集待标定的空心阴极灯发出的光信号的第一光谱曲线，并从所述第一光谱曲线中提取第一峰值波长，所述迈克尔逊干涉仪具有预设尺寸的口径；S2，基于所述修正后的迈克尔逊干涉仪的修正曲线，确定所述第一峰值波长的准确值，以完成对所述空心阴极灯的波长标定。本发明提供的方法及装置，可以用于标定空心阴极灯的波长。而且，由于采用了大口径的迈克尔逊干涉仪，可以分辨出相差皮米(pm)量级的两种波长，使标定结果更准确。
-
公开(公告)号：CN115752547B
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202211486405.1
申请日：2022-11-24
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种多参量融合标准器及制备方法，包括多个第一校准单元和一个第二校准单元：所述第一校准单元包括设定特性量值的第一涂料，用以校准特性线性度和特性量程；其中，每个所述第一校准单元对应的特性量值不同；所述第二校准单元包括设定形状和特性量值的第二涂料和第三涂料，所述第二涂料和所述第三涂料交替形成目标图案，用以校准面分布测量参数，其中，所述第二涂料的特性量值大于所述第三涂料；多个所述第一校准单元和所述第二校准单元呈阵列分布。本发明设置第一校准单元和第二校准单元，在同一空间位置中设置多种校准单元，能够实现同时和同位置的校准，不会引入系列误差。
-
公开(公告)号：CN108535673B
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN201810329537.0
申请日：2018-04-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于磁共振成像的光散射测量装置，用于测量样品表面对光散射强度的分布，包括：筒形骨架、射频线圈、梯度线圈、筒形磁体，筒形骨架的周壁的内表面包围形成样品放置腔；射频线圈缠绕于筒形骨架的周壁的外表面；梯度线圈缠绕于射频线圈的外层；筒形磁体环绕在梯度线圈的外层；多条光纤，多条光纤分别在筒形骨架的多个径向角度上穿透筒形骨架的周壁，并且多条光纤的末端在样品放置腔内暴露，以允许来自多条光纤的光束馈入样品放置腔、以及样品放置腔内的散射光从多条光纤馈出。该基于磁共振成像的光散射测量装置的测量效率高，准确性高，并且通过磁共振成像获得连续的光散射强度分布的灰度图，可提供连续的光散射强度的信号值。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
63
records
(took 0.022 seconds)
