一种天线方向角的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN107276691A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201610219322.4

    申请日:2016-04-08

    Abstract: 本发明实施例公开了一种天线方向角的确定方法,包括:在第一区域内,根据角度级的天线扫频数据,统计每个角度上的采样点的数量和各采样点的信号强度,该天线扫频数据是通过扫描该第一区域得到的;根据每个角度上的采样点的数量,确定M个天线辐射瓣,M大于等于1;根据各采样点的信号强度和每个角度上的采样点的数量,从M个天线辐射瓣中确定出天线辐射主瓣;根据天线辐射主瓣中的采样点的信号强度,确定出天线方向角的角度值。本发明实施例还提供了一种天线方向角的确定装置。

    一种基于扫频数据的天线性能分析方法及装置

    公开(公告)号:CN106707041A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201510790569.7

    申请日:2015-11-17

    CPC classification number: G01R29/10

    Abstract: 本发明提供一种基于扫频数据的天线性能分析方法及装置,其中方法包括:获取天线的扫频数据,确定各个扫频数据对应的采样点及其位置,根据采样点的位置,将所有采样点分布在以天线位置为圆心的圆形区域内;将圆形区域划分成多个具有预定大小圆心角的扇形,根据圆形区域内分布的采样点,确定圆形区域内存在的辐射叶,其中,每个辐射叶由一个或多个连续的扇形组成,辐射叶的每个扇形中存在有至少一个采样点,且与辐射叶相邻的扇形内不存在采样点;针对每个辐射叶,根据该辐射叶内的采样点的信号强度,确定天线的波瓣及对应的辐射方向;根据天线的各个波瓣的扫频数据,对天线的性能进行分析。本发明实施例简单易行,且具有高效和直观的特点。

    一种定位弱覆盖直放站的方法和装置

    公开(公告)号:CN105323846A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410380446.1

    申请日:2014-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种定位弱覆盖直放站的方法和装置,方法包括质差分析步骤:采用质差采样点定位小区的质差直放站;弱覆盖分析步骤:采用弱覆盖采样点定位小区的弱覆盖直放站;定位步骤:对弱覆盖采样点和质差采样点的小区时间提前量TA进行拟合分析得到弱覆盖和质差之间的相关系数r,相关系数r满足阈值所对应的直放站是弱覆盖质差直放站。采用差异化的特殊MR分析的定位直放站弱覆盖质差,通过差异化MR统计分析,智能辨别小区下挂的弱覆盖直放站与非弱覆盖直放站,从而精确定位直放站弱覆盖导致的质差。

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