一种基于图像处理的模型试验中变形和位移测量方法

    公开(公告)号:CN112325789B

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN202110000787.1

    申请日:2021-01-04

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供一种基于图像处理的模型试验中变形和位移测量方法,步骤如下:对模型试验中被测模型需测量变形和位移的区域进行打点标记;同时在试验场景中布置一块标定板;拍摄照片后对照片先后进行畸变矫正和透视变换,得到透视变换后图像;对透视变换后图像进行特征点检测;使用在两个不同时间点采集的透视变换后图像对同一标记点进行特征点匹配,匹配出多个特征点对;计算出该标记点在这段时间内的位移;通过所有标记点的位移组合计算出所测量平面区域的动态位移场或变形场。本发明解决了现有技术中存在的被测模型表面须具有较大粗糙度,须对表面进行喷射散斑等不可逆处理,须设置固定基准点,以及测量原理复杂和测量设备与操作系统昂贵等问题。

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