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公开(公告)号：CN108631070A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201710173939.1
申请日：2017-03-22
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
CPC classification number: H01Q25/04 , H01Q21/0006
Abstract: 本发明公开了一种波束模式可控天线，所述天线包括：发射机、射频端口组、第一开关组、馈电网络组和天线阵列；所述第一开关组设置于所述射频端口组与所述馈电网络组之间；所述发射机，用于产生电信号，并通过所述射频端口组将所述电信号输入到所述馈电网络组；所述馈电网络组包括至少两个馈电网络；所述馈电网络组，用于调节所述电信号的幅度和/或相位，使每个馈电网络对应不同的波束模式；所述第一开关组，用于选择接入所述天线阵列的馈电网络，以控制所述天线的波束模式。
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公开(公告)号：CN106330345A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201510369065.8
申请日：2015-06-29
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种检测电调天线连接线序的方法和装置，包括：通过电调单元调节所述电调单元对应的电调天线的电下倾角并通过天线端口采集对应n个电下倾角的反射信号的预设参数，n为大于2的正整数；根据所述n个电下倾角的反射信号的预设参数的数值以及预设数理统计算法计算所述预设参数的统计学特征参数，所述统计学特征参数用于表征所述预设参数的离散程度；当所述统计学特征参数的值大于预设阈值时，确定所述电调天线与基站之间的连接线序正确。在本发明提供技术方案中，通过远程自动检测当前基站和天线的连接线序从而发现和定位天馈系统的问题，无需人工上站检查及整改，可有效降低工程与维护成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106299632A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201510241020.2
申请日：2015-05-13
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
CPC classification number: H01Q15/14
Abstract: 本发明公开了一种人工磁导体结构单元、人工磁导体结构以及相应的极化平面天线，其中人工磁导体结构单元包括金属接地板、金属过孔、介质基板和周期贴片，所述周期贴片在所述介质基板上刻蚀形成，并且所述周期贴片由矩形框和弯折线组成，所述弯折线的两端在所述矩形框内与所述矩形框电连接，并且所述弯折线通过所述金属过孔与所述金属接地板电连接，所述金属过孔在所述弯折线的所述两端之间与所述弯折线电连接。
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公开(公告)号：CN102857309B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201210264054.X
申请日：2012-07-27
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，天线阵列部分与被测有源天线系统的天馈部分相同；其方法包括：测试罩单体校准：校准测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过单体校准的测试罩，对测试罩的近场耦合测试环境进行校准；射频指标测试：将被测有源天线系统置于校准后的测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和近场耦合校准环境相同，使用得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试罩上的射频测试接口对被测有源天线系统进行射频指标测试，得到有源天线系统射频端口的射频指标。
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公开(公告)号：CN102857309A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210264054.X
申请日：2012-07-27
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，天线阵列部分与被测有源天线系统的天馈部分相同；其方法包括：测试罩单体校准：校准测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过单体校准的测试罩，对测试罩的近场耦合测试环境进行校准；射频指标测试：将被测有源天线系统置于校准后的测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和近场耦合校准环境相同，使用得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试罩上的射频测试接口对被测有源天线系统进行射频指标测试，得到有源天线系统射频端口的射频指标。
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公开(公告)号：CN102684800A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210134494.3
申请日：2012-05-03
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明提供了一种有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置，其中，上述下行无线指标的测试方法在吸波暗室或者无信号干扰空间中进行，包括：获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数；将有源天线系统配置为向接收天线发射无线波束，其中，所述无线波束由来自于所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的基带处理单元的基带信号触发产生并经由所述接收天线传至所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表；启动所述基带处理单元和所述有源天线系统，并根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试。采用本发明提供的上述技术方案，实现了对有源天线系统的各项无线指标的测试。
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公开(公告)号：CN205790401U
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201620500139.7
申请日：2016-05-27
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H01Q21/06
Abstract: 本实用新型公开了一种阵列天线结构，包括数列辐射振子单元、对应每一所述辐射振子单元设置的振子射频端口，以及连接所述辐射振子单元与所述振子射频端口的馈电网络；相邻两列所述辐射振子单元错位排列。本实用新型的技术方案，通过将相邻两列辐射振子单元错位排列，在保证相邻两列中的相邻两辐射振子单元之间的间距满足隔离度要求的最小间距的同时，有效减小相邻两列辐射振子单元的列间距，进而有效减小整机的尺寸。
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