Patent search ap:("上海航天测控通信研究所") AND inv:"吕利清" Page 3

21.

外观设计
微波成像仪失效

公开(公告)号：CN3485259D

公开(公告)日：2005-11-09

申请号：CN200430084049.7

申请日：2004-11-02

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Designer： 何勇礼 , 张汉正 , 吕利清 , 杨伟中

Abstract: 省略其它视图。

Patent Agency Ranking