一种基于FPGA的电路模块测试方法

    公开(公告)号:CN112034331B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202010826182.3

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 一种基于FPGA的电路模块测试方法,包括步骤:1)获取目标电路模块的电路网表;2)获取测试电路模块的电路网表;3)根据目标电路模块的电路网表和测试电路模块的电路网表生成整体电路模块的电路网表,具体为:将测试电路模块的测试端口对应连接到目标电路模块的硬宏单元上,同时删除测试电路模块对应的硬宏单元;或将目标电路模块的测试端口对应连接到测试电路模块的硬宏单元上,同时删除目标电路模块对应的硬宏单元;4)使用步骤3)获得的整体电路模块的电路网表,对所述目标电路模块进行测试。本发明模拟了FPGA中IP核等电路模块通常作为整体电路的一部分的真实使用环境,从而使测试结果更准确。

    一种基于FPGA的电路模块测试方法

    公开(公告)号:CN112034331A

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN202010826182.3

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 一种基于FPGA的电路模块测试方法,包括步骤:1)获取目标电路模块的电路网表;2)获取测试电路模块的电路网表;3)根据目标电路模块的电路网表和测试电路模块的电路网表生成整体电路模块的电路网表,具体为:将测试电路模块的测试端口对应连接到目标电路模块的硬宏单元上,同时删除测试电路模块对应的硬宏单元;或将目标电路模块的测试端口对应连接到测试电路模块的硬宏单元上,同时删除目标电路模块对应的硬宏单元;4)使用步骤3)获得的整体电路模块的电路网表,对所述目标电路模块进行测试。本发明模拟了FPGA中IP核等电路模块通常作为整体电路的一部分的真实使用环境,从而使测试结果更准确。

    一种单粒子加固FPGA的用户寄存器状态捕获电路

    公开(公告)号:CN105702296B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201610127480.7

    申请日:2016-03-07

    Abstract: 一种单粒子加固FPGA的用户寄存器状态捕获电路,包括用户寄存器、晶体管M3、晶体管M4、SRAM存储单元、捕获信号产生电路,晶体管M3、晶体管M4放置在用户寄存器、SRAM存储单元之间,捕获信号产生电路产生输出信号CAPTURE,控制导通晶体管M3、晶体管M4导通,实现数据捕获回读。本发明状态捕获电路与现有技术相比,通过进行捕获回读操作,如果发现配置存储器阵列中存储的配置码流发生单粒子翻转,可以进行动态部分重配,如果配置存储器阵列中存储捕获用户寄存器状态的SRAM存储单元状态出现错误,可以对相应的逻辑进行复位处理,显著降低了FPGA芯片的单粒子翻转累积效应。

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