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公开(公告)号:CN105283962A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201380077391.0
申请日:2013-06-12
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L29/861 , H01L29/739 , H01L29/78 , H01L29/868
CPC classification number: H01L29/872 , H01L29/0615 , H01L29/0619 , H01L29/063 , H01L29/0638 , H01L29/0684 , H01L29/0692 , H01L29/0834 , H01L29/1602 , H01L29/1608 , H01L29/2003 , H01L29/36 , H01L29/417 , H01L29/7393 , H01L29/7397 , H01L29/861 , H01L29/8611 , H01L29/868
Abstract: 在n-型漂移层(1)的顶面设置有p型正极层(2)。在n-型漂移层(1)的底面设置有n型负极层(3)。在n-型漂移层(1)与n型负极层(3)之间设置有n型缓冲层(4)。n型缓冲层(4)的峰值浓度高于n-型漂移层(1),低于n型负极层(3)。n-型漂移层(1)与n型缓冲层(4)的连接部分处的载流子浓度的梯度为20~2000cm-4。
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公开(公告)号:CN104756258A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201380052950.2
申请日:2013-05-01
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L29/861 , H01L21/329 , H01L29/06 , H01L29/47 , H01L29/868 , H01L29/872
CPC classification number: H01L29/0619 , H01L21/046 , H01L21/0465 , H01L21/266 , H01L21/324 , H01L21/765 , H01L29/0615 , H01L29/063 , H01L29/1608 , H01L29/2003 , H01L29/6606 , H01L29/66068 , H01L29/66136 , H01L29/66143 , H01L29/66333 , H01L29/66363 , H01L29/7395 , H01L29/74 , H01L29/7811 , H01L29/861 , H01L29/868 , H01L29/872
Abstract: 从活性区域(12)的外周缘部朝向半导体基板(11)的外周缘部,以围绕活性区域(12)的方式形成电场缓和层(13)。电场缓和层(13)具备多个P型杂质层(21~25)。各P型杂质层(21~25)具备:P型注入层(21a~25a);以及P型扩散层(21b~25b),以围绕P型注入层(21a~25a)的方式形成,P型杂质的浓度比P型注入层(21a~25a)低。第一P型注入层(21a)与活性区域(12)相接或者一部分重叠地形成。各P型扩散层(21b~25b)形成为具有第一P型扩散层(21b)和第二P型扩散层(22b)相接或者重叠的程度的宽度。P型注入层(21a~25a)彼此的间隔(s2~s5)随着从活性区域(12)朝向半导体基板(11)的外周缘部变大。
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公开(公告)号:CN103050546A
公开(公告)日:2013-04-17
申请号:CN201210383444.9
申请日:2012-10-11
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L29/861 , H01L29/06
CPC classification number: H01L29/861 , H01L29/32 , H01L29/36
Abstract: 本发明的课题在于得到一种半导体装置,其能够在降低反向恢复功耗的同时提高耐压并抑制浪涌电压。在N-型漂移层(1)的上侧设置有P型阳极层(2)。在N-型漂移层(1)的下侧设置有N+型阴极层(3)。在N-型漂移层(1)与P型阳极层(2)之间设置有第1短寿命层(4)。在N-型漂移层(1)与N+型阴极层(3)之间设置有第2短寿命层(5)。载流子在第1短寿命层(4)及第2短寿命层(5)中的寿命τ2短于在N-型漂移层(1)中的寿命τ1(τ2<τ1)。在N+型阴极层(3)中的寿命τ3长于在N-型漂移层(1)中的寿命τ1(τ1<τ3)。
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