半导体装置
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103050546A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201210383444.9

    申请日:2012-10-11

    CPC classification number: H01L29/861 H01L29/32 H01L29/36

    Abstract: 本发明的课题在于得到一种半导体装置,其能够在降低反向恢复功耗的同时提高耐压并抑制浪涌电压。在N-型漂移层(1)的上侧设置有P型阳极层(2)。在N-型漂移层(1)的下侧设置有N+型阴极层(3)。在N-型漂移层(1)与P型阳极层(2)之间设置有第1短寿命层(4)。在N-型漂移层(1)与N+型阴极层(3)之间设置有第2短寿命层(5)。载流子在第1短寿命层(4)及第2短寿命层(5)中的寿命τ2短于在N-型漂移层(1)中的寿命τ1(τ2<τ1)。在N+型阴极层(3)中的寿命τ3长于在N-型漂移层(1)中的寿命τ1(τ1<τ3)。

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