将数据记录在光学记录介质上的方法和设备

    公开(公告)号:CN100444251C

    公开(公告)日:2008-12-17

    申请号:CN200380109123.9

    申请日:2003-12-30

    Abstract: 一种将数据记录在光学记录介质上的方法和设备,该方法包括:产生具有用于高速记录的记录模式的记录波形;和使用产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记并将数据的第二级别形成为间隔,其中,记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列形成,其中,所述记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平,并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平,最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由系统允许的抖动的范围被确定。

    用于记录/再现数据的信息存储介质和方法及设备

    公开(公告)号:CN100419870C

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN200480003019.6

    申请日:2004-06-25

    Inventor: 李坰根

    Abstract: 一种具有一个或多个记录层的只读信息存储介质以及一种用于读取/再现数据的方法和设备,所述的只读信息存储介质具有一个或多个记录层,每层包含导入区、用户数据区和导出区。导入和导出区的位置可为固定的,并且当被记录在所述存储介质上的用户数据量小于所述存储介质的全容量时,除用户数据之外的数据被记录在用户数据已被记录之后剩余的空间上。

    记录和/或再现装置
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101261869A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810091512.8

    申请日:2004-03-04

    Abstract: 提供一种记录和/或再现装置,该记录和/或再现装置包括:拾取器,将数据写入记录介质和/或从记录介质读取数据;和控制器,控制该拾取器以将数据记录在该记录介质上,将表示该记录介质上用户数据区域中的已占用区域的记录状态数据记录在分配在该记录介质上的临时缺陷管理区域中,并且响应于最终确定命令将预定数据记录在临时缺陷管理区域中。

    处理缺陷区和链接区的方法

    公开(公告)号:CN100416691C

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200510056826.0

    申请日:2000-04-28

    Abstract: 一种处理存储链接类型信息的记录介质中缺陷区和链接区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息,该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式,还应用到紧跟在缺陷区后的区域,提高了用户数据的可靠性。

    记录方法与装置
    27.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100412978C

    公开(公告)日:2008-08-20

    申请号:CN200410055275.1

    申请日:2004-03-17

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2020/1873

    Abstract: 一种记录方法、记录装置、光学记录介质、和计算机可读记录介质,所述记录介质中存储了用于所述记录方法的程序,其中所述方法包括:将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N=0、1、2、…)的临时缺陷信息以及在该整个临时缺陷信息之中的排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分别记录到光学记录介质中。

    信息记录介质记录和/或再现数据的设备及其方法

    公开(公告)号:CN101221778A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200710160558.6

    申请日:2005-04-15

    Abstract: 本发明公开了一种信息记录介质记录和/或再现数据的设备及其方法。一种信息记录介质包括导入区、用户数据区、和导出区,并且导入区或者导出区中的至少一个包括将规定在信息记录介质的每个区是否是可记录的和/或可再现的兼容性信息记录在其中的兼容性信息区。兼容性信息可以包括关于用户数据区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于导入区/导出区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于兼容性信息区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、或者关于缺陷管理区(DMA)是否是可记录的和/或可再现的状态信息中的至少一个。这里,DMA存储已经在用户数据区中出现的缺陷的信息。

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