利用全息图和凹形表面测量非球面的装置和方法

    公开(公告)号:CN1427242A

    公开(公告)日:2003-07-02

    申请号:CN02156997.5

    申请日:2002-12-23

    CPC classification number: G01M11/025 G01B9/021 G01M11/0271

    Abstract: 本发明提供了一种用于测量非球面的方法和装置。非球面测量装置包括:产生入射光的干涉仪;具有非球面的测试件,入射光被该测试件反射成测试光;设置在入射光光路上的第一光学元件,至少有一个带有全息图的表面,用于把入射光向测试件衍射;和设置在第一光学元件后面的第二光学元件,把入射光透向非球面,并具有一个凹面,以便减小测试光从非球面反射后进入全息图的入射角。或者,可以用带有全息图和凹面的单光学元件代替单独的第一和第二光学元件。可以利用本装置精确地测量非球面。

    裸眼可视立体显示器
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100434971C

    公开(公告)日:2008-11-19

    申请号:CN200610107609.4

    申请日:2006-07-26

    CPC classification number: G02B27/2214

    Abstract: 本发明公开了一种不产生分色和黑条的裸眼可视立体显示器,其包括:利用多个像素显示图像的显示面板;将显示面板所显示的图像分离成左眼图像和右眼图像的3D光学片;以及棱镜片,其设置在显示面板与3D光学片之间,并具有多个规则排列以使显示面板的每个像素所提供的图像旋转约90°的棱镜元件。

    用于处理3维视频信号的装置和方法

    公开(公告)号:CN101014137A

    公开(公告)日:2007-08-08

    申请号:CN200610064421.6

    申请日:2006-11-28

    CPC classification number: H04N13/133 H04N13/144 H04N2213/002

    Abstract: 提供用于处理三维(3D)视频信号的装置和方法,其校正第一和第二视频信号以防止3D效果的减弱以及由于该第一和第二视频信号的差别带来的像差估计误差。该方法包括:检测接收的第一和第二视频信号的相应特征间的差别的视频信号检测单元;以及校正该第一视频信号或该第二视频信号以使该第一和第二视频信号的特征均衡的视频信号校正单元。当该装置和方法被使用时,可以防止3D效果的减弱以及由于该第一和第二视频信号的差别带来的像差估计误差。

    高分辨率自动立体显示器
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1908734A

    公开(公告)日:2007-02-07

    申请号:CN200610110635.2

    申请日:2006-08-04

    CPC classification number: G02B27/2214 H04N13/305 H04N13/359

    Abstract: 提供一种高分辨率自动立体显示器。该自动立体显示器包括:控制器;显示面板,从控制器接收图像信号并形成图像,所述显示面板包括像素以及像素之间的非活动区域;偏振器,使从显示面板发出的光具有第一偏振;偏振开关控制器;偏振开关,响应于偏振开关控制器的电控制,选择性地将具有第一偏振的光转换为具有第二偏振的光;选择控制器;第一光电双折射层,具有随选择控制器的电控制而改变方向的光轴,并且包括分离开预定间距的多个第一微粒透镜;和第二光电双折射层,具有随选择控制器的电控制而改变方向的光轴,并且包括多个第二微粒透镜,所述多个第二微粒透镜以与第一微粒透镜的间距相同的间距布置,并相对于第一微粒透镜偏移半个间距。

    利用全息图和凹形表面测量非球面的装置和方法

    公开(公告)号:CN1200245C

    公开(公告)日:2005-05-04

    申请号:CN02156997.5

    申请日:2002-12-23

    CPC classification number: G01M11/025 G01B9/021 G01M11/0271

    Abstract: 本发明提供了一种用于测量非球面的方法和装置。非球面测量装置包括:产生入射光的干涉仪;具有非球面的测试件,入射光被该测试件反射成测试光;设置在入射光光路上的第一光学元件,至少有一个带有全息图的表面,用于把入射光向测试件衍射;和设置在第一光学元件后面的第二光学元件,把入射光透向非球面,并具有一个凹面,以便减小测试光从非球面反射后进入全息图的入射角。或者,可以用带有全息图和凹面的单光学元件代替单独的第一和第二光学元件。可以利用本装置精确地测量非球面。

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