信息处理方法、信息处理装置和非暂时性计算机可读记录介质

    公开(公告)号:CN117255110A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202310678748.6

    申请日:2023-06-08

    Inventor: 古贺一真

    Abstract: 一种信息处理方法,包括:通过控制器经由通信接口从获取关于物理量的测量信息的一个或多个波形分析仪接收关于测量信息的屏幕信息;通过控制器经由通信接口向多个操作终端传输所获取的屏幕信息;从多个操作终端中的第一操作终端接收通过屏幕信息对一个或多个波形分析仪进行操作的请求;通过控制器确定是否向多个操作终端中除第一操作终端之外的任何操作终端授予了操作一个或多个波形分析仪的控制权;并且响应于确定未向多个操作终端中除第一操作终端之外的任何操作终端授予控制权,通过控制器向第一操作终端授予控制权。

    电流传感器
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114252676A

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202111048369.6

    申请日:2021-09-08

    Abstract: 本发明的电流传感器(100)包括:能够配置为包围被测量电流流动的导线(300)的周围的磁芯(101);检测磁芯(101)的内部的磁通量的磁传感器(102);放大磁传感器(102)的输出,并且输出与磁传感器(102)的输出相应的电流的放大器(103);被缠绕配置在磁芯(101)上,在抵消磁通量的方向上流动放大器(103)输出的电流的反馈线圈(104);被配置在反馈线圈(104)和地(33)之间的分流电阻(105);放大分流电阻(105)的两端的电压的差动放大器(110);输出差动放大器(110)的基准电位的负输出端子(100B);以及被配置在负输出端子(100B)和地(33)之间的限制电阻(116)。

    电流传感器
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110687339B

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN201910514547.6

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 本发明提供可提高电流的测定精度的电流传感器。电流传感器(1)具有:磁芯(10),能够配置于被测定电流所流过的导线(2)的轴向周围;励磁线圈(22),缠绕于磁芯(10);反馈线圈(32),缠绕于磁芯(10)和励磁线圈(22)的外侧;励磁电路(24),向励磁线圈(22)输入励磁电流;检波电路(40),基于励磁线圈(22)的输出来检测与被测定电流相应的信号;反馈电路(34),向反馈线圈(32)输出基于与被测定电流相应的信号的反馈信号;积分放大电路(50),对励磁线圈(22)的输出进行积分,并将以规定倍率放大后的结果作为抵消信号而输出;以及运算电路(60),从基于流过反馈线圈(32)的反馈线圈电流的信号中减去抵消信号。

    压力测量器
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108318178A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201810015977.9

    申请日:2018-01-08

    Abstract: 压力测量器具备:压力传感器部;显示部,其对所述压力传感器部的测量值进行显示;以及测量控制部,其构成为,将所述压力传感器部的测量范围设定为由所述压力传感器部的固有的下限值,和小于或等于所述压力传感器部的固有的上限值的、彼此不同的上限值规定的多个测量范围中的任意者,在所述测量值超过与所设定的所述测量范围的上限值对应的显示上限值的情况下,避免由所述显示部进行所述测量值的显示。

    测定装置以及测定方法
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119001203A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202410583299.1

    申请日:2024-05-11

    Abstract: 测定装置具有控制部,该控制部针对施加有第1频率的被测定电压的芯线,经由绝缘体而注入第2频率的注入电流,获取所述注入电流和经由所述绝缘体从所述芯线漏出的所述被测定电压的漏电流在电路单元叠加所得的合成电流,对所述合成电流进行解析,计算基于所述被测定电压的贡献所得的有效功率及无效功率即测定有效功率及测定无效功率,基于所述测定有效功率、所述测定无效功率、所述第1频率、所述第2频率、所述注入电流的电压以及所述漏电流的电流实际值而计算所述被测定电压,将计算出的所述被测定电压输出。

    测定装置、测定方法以及程序
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118999783A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202410505270.1

    申请日:2024-04-25

    Abstract: 本发明涉及的测定装置(1)具有:控制部(80);以及分光器(10),其具有形成有使得被测定光(L1)通过的开口部(132a)的光学元件,控制部(80)执行至少对被测定光(L1)的光束点(P)在开口部(132a)内处于第1位置(x1)时的第1光谱(S1(i))以及处于第2位置(x2)时的第2光谱(S2(i))进行合成,生成缩窄化的被测定光(L1)的合成光谱(Sr(i))的第1处理,第1位置(x1)包含从光束点(P)的开口部(132a)内的基准位置(x0)向规定方向(D)的一侧偏移后的位置,第2位置(x2)包含从基准位置(x0)向另一侧偏移后的位置。

    测定方法、测定装置以及测定系统

    公开(公告)号:CN118818148A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410363826.8

    申请日:2024-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种测定方法、测定装置以及测定系统,测定方法包含如下步骤:获取将三相异电容接线的3相(R、S及T)的配线钳住而测定出的三相漏电流的步骤;获取将三相异电容接线的3相(R、S、T)中的、在中点(N)接地的2相(R及S)的配线钳住而测定出的单相漏电流的步骤;基于三相漏电流以及单相漏电流,对三相异电容接线的3相(R、S及T)各自的配线中流过的漏电流的电阻分量进行计算的步骤;以及将三相异电容接线的3相(R、S及T)各自的配线中流过的漏电流的电阻分量的测定结果输出的步骤。

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