具有缺陷管理区的光盘及其缺陷管理方法

    公开(公告)号:CN1150546C

    公开(公告)日:2004-05-19

    申请号:CN00137544.X

    申请日:1999-10-11

    Inventor: 高祯完 朴仁植

    Abstract: 一种具有用于缺陷管理的备用区的记录介质,以及一种分配该备用区的方法。多个区段形成一个组,无需规定一个区段和一个组之间的关系。备用区包括一个用于滑移替换的备用区和一个用于线性替换的备用区。用于滑移替换的备用区被首先分配,用于线性替换的备用区是根据滑移替换后剩余的主备用区的尺寸和光盘使用的目的而分配的。当光盘使用期间,用于线性替换的备用区变得不足时,从一个逻辑文件区的最后部,按顺序分配一个用于线性替换的附加备用区,从而可以更加灵活地和有效地分配备用区。

    高速复制保护方法
    226.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1327322A

    公开(公告)日:2001-12-19

    申请号:CN01112147.5

    申请日:2001-03-30

    Inventor: 高祯完 金秉俊

    CPC classification number: H04L9/0822 H04L2209/605

    Abstract: 提供了一种高速复制保护方法。该高速复制保护方法包括下列步骤:利用第一加密密钥加密包含第二加密密钥数据的文本的第一区域,利用第二加密密钥加密文本的第二区域,并传输密文。利用在公用密钥加密方法中使用的密钥处理要求高速处理的大量密文数据,利用大的公用密钥或在公开密钥加密方法中使用的密钥处理一部分密文数据,从而同时满足了速度和安全性的要求。

    检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备

    公开(公告)号:CN1323033A

    公开(公告)日:2001-11-21

    申请号:CN01112396.6

    申请日:2001-04-06

    Inventor: 高祯完 郑铉权

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B19/04 G11B27/36 G11B2220/20

    Abstract: 一种用于检验盘记录和再现设备在进行认证情况下执行再初始化时是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及采用该方法的测试设备。该方法包括步骤:采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘,在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化,之后从DMA信息产生测试信息;和将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。因此,能够容易地判定盘记录和再现设备是否正常地执行了DMA产生或更新功能。

    检验光盘上的缺陷管理区信息的方法及测试设备

    公开(公告)号:CN1321981A

    公开(公告)日:2001-11-14

    申请号:CN01116268.6

    申请日:2001-04-09

    Inventor: 高祯完 郑铉权

    CPC classification number: G11B27/36 G11B20/182 G11B20/1883 G11B2220/20

    Abstract: 一种检验在利用验证初始化的光盘上的缺陷管理区信息的方法,和用于执行该检验的测试设备。该方法包括生成缺陷管理信息作为测试信息,其在对通过在空白盘上形成能识别的物理缺陷获得的测试盘,执行利用验证初始化之后,及为提供测试结果而使用关于利用验证初始化的基准测试信息检验该测试信息生成。因此,使用含有能识别的物理缺陷的测试盘,可容易地检验一记录和再现设备适当地解释和处理利用验证的初始化之后生成的DMA信息。

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