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公开(公告)号：CN101218635A
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN200680025077.8
申请日：2006-08-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1883 , G11B2020/10907 , G11B2020/1288 , G11B2220/20
Abstract: 提供一种有效地确保信息记录介质的再现兼容性的方法、执行有效确保再现兼容性的读/写操作的记录/再现设备，以及信息记录介质。在具有多个区域的信息记录介质中，根据存储在信息记录介质中设置的用户数据区域中的数据的位置来确定所述区域的使用顺序，并且以确定的使用顺序将数据记录在所述区域中。因此，可以有效确保信息记录介质的再现兼容性。
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公开(公告)号：CN101217047A
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN200810001370.1
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种信息记录介质、一种记录/再现方法和设备、以及一种主机设备，被提供以确保具有新标准和现有标准驱动器系统的功能的信息记录介质之间的兼容性。该信息记录介质包括：数据区域；缺陷管理区域，用于管理在数据区域中发生的缺陷；和访问控制区域，其中记录关于由该介质被载入其中的记录/再现设备可识别的功能的访问控制数据和关于由该记录/再现设备不可识别的功能的访问控制数据，其中，记录在缺陷管理区域中的写保护标志和记录在访问控制区域中的访问控制数据提供用于核查该介质是否可重新初始化的重新初始化核查信息。
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公开(公告)号：CN100399435C
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200580000880.1
申请日：2005-03-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24038 , G11B7/00736 , G11B7/0079 , G11B7/126 , G11B2007/0006
Abstract: 提供一种混合信息存储介质，包括：导入区，存储关于信息存储介质的基本信息；导出区，指示信息存储介质的结尾；多种类型的数据区，需要不同的最佳读取功率；和用于所述多种类型的数据区的不同的最佳读取功率信息。相应地，由于当光盘驱动器从包括需要不同最佳读取功率的多种类型的数据区的混合超分辨率光盘再现数据时，用于每一区的最佳读取功率信息被提供给该光盘驱动器，因此可以始终获得最佳的再现特性。
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公开(公告)号：CN101197165A
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200710300424.X
申请日：2005-04-15
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种信息记录介质包括导入区、用户数据区、和导出区，并且导入区或者导出区中的至少一个包括将规定在信息记录介质的每个区是否是可记录的和/或可再现的兼容性信息记录在其中的兼容性信息区。兼容性信息可以包括关于用户数据区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于导入区/导出区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于兼容性信息区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、或者关于缺陷管理区(DMA)是否是可记录的和/或可再现的状态信息中的至少一个。这里，DMA存储已经在用户数据区中出现的缺陷的信息。
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公开(公告)号：CN101197146A
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200710165029.5
申请日：2004-02-03
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/00736 , G11B7/261 , G11B7/263
Abstract: 一种包括数据在其中以凹坑的形式被记录的多个区的只读光学信息存储介质，其中，该多个区中的至少一个中的凹坑具有与形成在该多个区的其它区中的凹坑不同的凹坑图样。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN100373470C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200480001431.4
申请日：2004-03-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/12 , G11B19/28 , G11B20/10 , G11B20/1252 , G11B2020/1229 , G11B2020/1231 , G11B2020/1259 , G11B2020/1278 , G11B2220/2537
Abstract: 一种其中速度信息已被记录的信息存储介质，以及记录和/或再现信息存储介质上的数据的方法。信息存储介质包括只再现区域，其中记录着指示驱动器能否记录和/或再现信息存储介质上的数据的记录速度信息和/或再现速度信息。记录和/或再现信息存储介质中的数据的方法，该方法包括：将速度信息和/或再现速度信息记录为只再现区域中的只再现数据的记录，其被用来向驱动器指示器速度性能；并且当驱动器的记录速度或再现速度的性能匹配记录速度信息或再现速度信息时，记录或再现信息存储介质上的数据。
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公开(公告)号：CN100372000C
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200380101600.7
申请日：2003-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B2020/10972 , G11B2020/1826 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 提供了一种使用可被更新的缺陷管理区域的盘缺陷管理方法和装置，和一次写入盘。该一次写入盘是导入区域、数据区域、和导出区域被顺序地置于其中的单记录层盘，该盘包括在导入区域和导出区域中至少出现一次的缺陷管理区域(DMA)，其中根据记录操作缺陷信息和缺陷管理信息被重复地记录在DMA中。因此，盘缺陷管理方法和装置可应用于一次写入盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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公开(公告)号：CN101105950A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200710146546.8
申请日：2005-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24
Abstract: 提供了一种光学记录介质，一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，和一种将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，以使用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定。光学记录介质包括参考信号区，参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件记录在其中。因此，一旦当光学记录介质第一次被装入盘驱动器时参考信号被记录在光学记录介质的导入区或导出区的预定部分中，而后用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定而无需另外地执行最佳功率控制(OPC)。
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公开(公告)号：CN101083123A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710126966.X
申请日：2003-09-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备，以及盘，其中，该方法包括：将用户数据记录在数据区域中；和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此，该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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