公开(公告)号：CN101296864B

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200680040256.9

申请日：2006-10-25

Applicant: 日本超精石英株式会社

Inventor： 神田稔 ,  辻义行

IPC: C03B20/00 ,  C01B33/18

CPC classification number: C01B33/18 ,  B01J8/1836 ,  B01J8/42 ,  B01J2208/00407 ,  B01J2208/00415 ,  B03C1/288 ,  B03C1/30 ,  B03C1/32 ,  B03C2201/16 ,  B03C2201/18 ,  C03C1/02

Abstract: 本发明提供二氧化硅颗粒的纯化方法，该纯化方法是使二氧化硅颗粒形成流动状态、在高温下使纯化用气体与流动状态的二氧化硅颗粒接触，除去二氧化硅颗粒的杂质成分的纯化方法，其中，使流动状态的二氧化硅颗粒位于磁场区域内，优选使流动状态的二氧化硅颗粒位于10高斯以上的磁场区域内，在1000℃以上的温度下与纯化用气体接触，由此可以在比以往的气体纯化方法的平均处理温度低的1000℃～1300℃的温度下获得高的纯化效果。

公开(公告)号：CN101887003A

公开(公告)日：2010-11-17

申请号：CN201010214848.6

申请日：2010-06-29

Applicant: 上海杰远环保科技有限公司

Inventor： 马宇尘

IPC: G01N15/00 ,  G01N15/02

CPC classification number: G01N15/1031 ,  B03C3/025 ,  B03C3/08 ,  B03C3/12 ,  B03C3/145 ,  B03C2201/10 ,  B03C2201/16 ,  B03C2201/24 ,  G01N15/02 ,  G01N2001/4038 ,  G01N2015/0038

Abstract: 本发明提出了一种微粒测量的装置及其测量方法，属于微粒测量的技术领域，该装置包括起支撑作用的机身，用以对待测量的微粒进行电荷附加操作的电荷附加器，用以向电荷附加器提供电荷的电荷聚集器，用以聚集带电微粒所带的电荷量的带电微粒接收器，用以将所接收的电荷导出的电荷导出组件，用以度量电荷量的电荷测量组件，及用以将测量的电荷与微粒状况对应起来的微粒分析组件。其测量方法为给微粒加电，聚集带有电荷的带电微粒，导出带电微粒所带的电荷，测量所导出的带电微粒所带的电荷量，依据所测量的电荷量分析微粒的状况。与现有技术相比，能够更加有效地识别微粒的数量和粒度。