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公开(公告)号：CN100591277C
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200410104740.6
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN1961399A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200580017307.1
申请日：2005-04-14
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01J35/14
CPC classification number: H01J35/06 , H01J35/14 , H01J35/16 , H01J35/30 , H01J2235/068
Abstract: 一种用于形成x射线的系统和方法。一个典型系统包括靶体和带有多个电子源的电子发射子系统。所述多个电子源均被配置成在靶体上产生多个离散斑点，x射线从所述斑点发射。另一典型系统包括：靶体；带有多个电子源的电子发射子系统，每个电子源产生靶体上的多个斑点中的至少一个；以及瞬变射束保护子系统，用于保护所述电子发射子系统免于瞬变射束电流、来自靶体的材料发射物、以及电场瞬变。
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公开(公告)号：CN1676102A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510065145.0
申请日：2005-03-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4014 , A61B6/4028 , A61B6/4233 , A61B6/4275 , A61B6/4452
Abstract: 一种放射性成像系统(10)，它包括：一个或多个辐射源(56，58)，它们基本上包围成像体积(51)的所需部分并配置成从围绕成像体积(51)的多个单独辐射源位置(57，59)发射射线束(38)；以及一个或多个检测器(60，62)，它们配置成接收透射的射线束。所述辐射源(56)和所述检测器(60)中的至少一个是可移动的，以便为所述射线束提供一条无阻碍路径，并且更完整地接收透射的射线束。
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公开(公告)号：CN1626039A
公开(公告)日：2005-06-15
申请号：CN200410104740.6
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN101627409B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN200880007264.2
申请日：2008-02-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/5258
Abstract: 本发明提供了一种用于处理图像的方法。该方法包括识别由一组投影数据产生的二维或三维图像中的一个或多个轮廓或表面。基于充分限定一个或多个轮廓或表面的那些数据点的识别来区别地处理该组投影数据。由该组经处理的投影数据来重构增强的图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101617247A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200880005394.2
申请日：2008-02-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 违禁品检测系统包括设计为对对象执行第一扫描的第一违禁品检测设备和与第一违禁品检测设备呈直线放置以对对象执行第二扫描的第二违禁品检测设备。计算机包括在违禁品检测系统中并编程为促使第一违禁品检测设备执行第一扫描以及从中采集对象数据。计算机还编程为基于对象数据识别对象中的一个或多个关注区域(ROI)，促使第二违禁品检测设备对一个或多个识别的ROI执行第二扫描以及从第二扫描采集对象数据。
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公开(公告)号：CN100563573C
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200610089871.0
申请日：2006-04-18
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/4085 , H05G1/52
Abstract: 提供了一种计算机断层摄影(CT)成像方法，所述方法包括以相当慢的旋转速度围绕感兴趣体积旋转台架(54)。所述台架(54)包括X射线源点的组合。所述X射线源点包括一个或更多不连续的发射点(70，72)和弧形排列的不连续或连续X射线源点(74)。所述方法还包括从所述X射线源点的组合获取投影数据并基于从所述X射线源点的组合获取的投影数据执行适当的重建，以便产生一个或更多重建的图像。
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公开(公告)号：CN100563567C
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200510052906.9
申请日：2005-02-25
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4028 , A61B6/4085
Abstract: 提供一种利用包括两个或多个发射点(70)的X射线源(12)将视场(72)的成像技术。每个发射点(70)配置成发射一个包围小于整个视场(72)的范围的扇形辐射(16)。各发射点(70)被逐一地激活并围绕视场(72)旋转，使得可以围绕视场(72)以各种不同的视角发射相应的辐射流(16)。可以有差异地激活对应于视场(72)的不同的径向区域的各发射点(70)，以便突出视场内所关心的区域(80)。可以以重复或偏移的配置沿着纵向轴外推多个发射点(70)。
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公开(公告)号：CN100457038C
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：CN200310124055.5
申请日：2003-12-31
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/469 , A61B6/503 , A61B6/508 , A61B6/563 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/612 , G01T1/2985
Abstract: 一种用于在非侵入式成像系统(10)，如CT医疗成像系统(50)中提供可配置的视场的方法和装置。提供有包括两个或更多个平面板X射线探测器(68)的探测器结构(22)，以便于可配置的视场可包围两个或更多个X射线探测器(68)的全部面积或所述全部面积的任何适宜的子集(74)。基于可接受的视场并且结合可接受的扫描速度，可对视场加以配置。
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公开(公告)号：CN100424725C
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200380110458.2
申请日：2003-12-29
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/503 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/612 , G06T7/246 , G06T11/005 , G06T2211/412
Abstract: 提供一种用于对动态物体(例如心脏)采集的投影数据集(120)进行时间内插(134)的技术。利用缓慢旋转台架(54)和分布式X射线源(12)来采集投影数据集(120)。可以对投影数据(120)在每个观察位置对所选瞬间(例如相对于心脏相位)进行内插。所得到的内插投影数据(136)可以表现在每个观察位置在任何瞬间投影数据(120)的特征。然后重构(138)内插投影数据集(136)，产生具有改进的时间分辨率的图像和/或体积(140)。
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