公开(公告)号：CN102508284A

公开(公告)日：2012-06-20

申请号：CN201110380058.X

申请日：2007-08-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 萨米特.K.巴苏 ,  布鲁诺.德曼 ,  杰德.D.帕克 ,  吴小页 ,  印智慧 ,  彼得.M.伊迪克

IPC: G01T1/29 ,  G06T7/00

CPC classification number: G01T1/2985 ,  A61B6/027

Abstract: 提供了一种用于再现投影数据的方法，包括：提供一组投影数据，该组投影数据表示圆柱形表面的取样部分；以及使用锥形束再现算法使所述组投影数据再现。在另一方法中，使用螺旋插值而处理两个或多个组在空间上交错的螺旋投影数据。使用二维轴向再现算法或三维再现算法使螺旋插值的所述组投影数据再现。还公开了一种图像分析系统，包括：处理电路，该处理电路被配置成再现表示所述圆柱形表面的取样部分的投影数据，其中所述图像处理电路使用锥形束再现算法使该组投影数据再现。

公开(公告)号：CN100591277C

公开(公告)日：2010-02-24

申请号：CN200410104740.6

申请日：2004-11-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B·K·B·德曼 ,  S·K·巴苏 ,  P·M·埃迪克 ,  R·F·森兹 ,  W·R·罗斯 ,  吴小页 ,  C·R·威尔逊 ,  M·E·弗米利耶 ,  E·L·萨拉内斯

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/4275 ,  A61B6/027 ,  A61B6/03 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4014 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01T1/2985

Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。

公开(公告)号：CN101512380A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200780032576.4

申请日：2007-08-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 萨米特·K·巴苏 ,  布鲁诺·德曼 ,  杰德·D·帕克 ,  吴小页 ,  尹杰 ,  彼得·M·伊迪克

IPC: G01T1/29

Abstract: 提供了一些系统和方法用于采集和再现投影数据，其中所述投影数据是使用计算机X射线断层造影(CT)的系统采集的并且是在数学上完备或足够的。在一个实施例中，分布源被设置为在X－Y平面中和沿着所述Z轴偏移的弧形段。在另一实施例中，一组表示圆柱形表面的取样部分的投影数据被提供。该组投影数据是使用合适的锥形束再现算法予以再现的。在另一实施例中，使用螺旋插值而处理两个或多个组在空间上交错的螺旋投影数据。使用二维轴向再现算法或三维再现算法使螺旋插值的所述组投影数据再现。

公开(公告)号：CN1626039A

公开(公告)日：2005-06-15

申请号：CN200410104740.6

申请日：2004-11-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： B·K·B·德曼 ,  S·K·巴苏 ,  P·M·埃迪克 ,  R·F·森兹 ,  W·R·罗斯 ,  吴小页 ,  C·R·威尔逊 ,  M·E·弗米利耶 ,  E·L·萨拉内斯

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/4275 ,  A61B6/027 ,  A61B6/03 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4014 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01T1/2985

Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。