对介质中夹杂的对象定位的方法和执行该方法的测量设备

    公开(公告)号:CN103052894A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201180041639.9

    申请日:2011-07-28

    CPC classification number: G01V3/10 G01V3/08

    Abstract: 本发明涉及一种用于对介质(10)中所夹杂的对象(12)定位的方法,其中生成与所夹杂的对象(12)相关的测量信号(UM),根据所述测量信号(UM)产生信号(Z)、尤其是用于传送给用户的状态信号(Z),所述信号(Z)至少能够实现在第一状态“探测到对象”(Z=a)与至少一个第二状态“没有探测到对象”(Z=b)之间进行辨别。根据本发明提出了设置第三状态“对象在附近”(Z=c)。此外,本发明涉及一种用于执行根据本发明的方法的测量设备,尤其是可手持的定位设备。

    带有手持的定位单元的定位系统

    公开(公告)号:CN106461392B

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201580034368.2

    申请日:2015-04-22

    Abstract: 本发明基于定位系统,该定位系统带有至少一个手持的定位传感器(11a;11b;11c),该定位传感器设置用于:对于被隐藏在研究表面(12a;12b;12c)下的定位对象(13a;13b;13c)测定定位数据,该定位系统带有位置传感器(14a;14b;14c),该位置传感器设置用于:测定配设给定位数据的位置数据,该定位系统带有评估单元(15a;15b;15c),该评估单元设置用于:从定位数据和位置数据中确定和提供至少二维的图片信息。所建议的是,定位系统包括至少一个数据源(16a、17a、19a‑26a;16b、17b、19b‑26b;16c、17c、19c‑26c),该数据源设置用于:提供用于调制所述至少二维的图片信息的数据。

    电子设备
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102197536B

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN200980142782.X

    申请日:2009-08-20

    CPC classification number: H01Q21/24 H01Q7/00

    Abstract: 本发明涉及一种电子设备,特别是以一种定位设备(12),其具有LCR天线装置(14),所述天线装置(14)具有带有第一极化方向(18)的天线单元(16),并且天线装置设置所述第一极化方向(18)用于发射和/或接收测量信号。本发明建议,天线单元(16)具有至少一个用于发射和/或接收测量信号的第二极化方向(20)。

    具有场补偿的磁场传感器的传感器装置、尤其是金属传感器

    公开(公告)号:CN103154775A

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201180052000.0

    申请日:2011-09-21

    CPC classification number: G01R33/0005 G01V3/107

    Abstract: 本发明涉及传感器装置(10)、尤其是金属传感器,带有至少两个线圈(12,14)和磁场传感器(16),其中,线圈和磁传感器的相互布置和/或线圈匝数量和/或线圈的绕线方向和/或线圈电流被选择为使得在磁场传感器(16)的地点处由线圈(12,14)产生的磁场近似消失。本发明还涉及用于在使用至少两个线圈和磁场传感器、尤其是AMR传感器、GMR传感器或霍尔传感器的情况下探测对象的方法,尤其是用于找出金属对象的方法,其中,线圈和磁传感器的相互布置和/或线圈匝数量和/或线圈的绕线方向和/或线圈电流被选择为使得在磁场传感器的地点处由线圈产生的磁场近似消失。

    手持式测量仪及其操作方法

    公开(公告)号:CN106662541B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201580048847.X

    申请日:2015-08-11

    Abstract: 一种用于无损确定涉及工件(42)材料性能的材料测量值的移动式测量仪(10),具有壳体(12),在该壳体内至少设有第一传感器装置(32)和第二传感器装置(60)、控制装置(28)、分析装置(30)以及给该测量仪供应能量的装置(22)。第一传感器装置(32)具有核磁共振传感器(32'),第二传感器装置具有基于介电方法和/或电阻方法的传感器(60'),其中通过分析由第一传感器装置(32)提供的测量信号来获得关于工件(42)材料性能尤其是存在于工件(42)内的湿度的信息,该信息设置用于第二传感器装置(60)的优化控制和/或由第二传感器装置(60)提供的测量信号优化分析。

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