公开(公告)号：CN101595525A

公开(公告)日：2009-12-02

申请号：CN200880003602.5

申请日：2008-12-08

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 坂本哲洋 ,  中野淳 ,  朝比奈隆行 ,  芝崎悦男 ,  河内秀夫

IPC: G11B7/007 ,  G11B7/0045 ,  G11B7/24 ,  G11B7/26

CPC classification number: G11B7/00736 ,  G11B7/00451 ,  G11B7/24085 ,  G11B7/24094 ,  G11B7/263 ,  G11B7/268

Abstract: 在信息信号记录平面上的信息信号区域对应于调制信息数据被形成为在反射镜上的凹坑，并被金属合金反射膜覆盖。信息信号区域具有不包含对应于信息数据的凹坑的部分。在不包含凹坑的相应部分上的金属合金反射膜部分被形成为对应于信息数据的穿孔标记。在这种情况下，通过调整凹坑的深度和宽度和/或调整穿孔标记的宽度和长度，可以获得与穿孔标记信号的再现信号振幅电平基本相同的预制凹坑信号再现信号振幅电平。这样抑制由于波形等化电路引起的波形变形的产生或者由于限制电平移位引起的二进制信号的不规则性，从而通过同一读取设备稳定地、可靠地检测信号。

公开(公告)号：CN1871647A

公开(公告)日：2006-11-29

申请号：CN200480031145.2

申请日：2004-08-19

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 田中靖人 ,  三木刚 ,  坂本哲洋 ,  藤田五郎 ,  藤家和彦

IPC: G11B11/105

CPC classification number: G11B11/10582

Abstract: 用来自LD(11)的预定功率的激光束辐照磁光盘(33)，以用于热处理。在热处理之后，用功率小于用于热处理的功率的激光束辐照执行过热处理的区域。较小功率激光束的反射光入射到光学传感器(24、26)上，并检测P波和S波的反射光强度。利用P波和S波的反射光强度，差动检测电路(27)检测与执行过热处理的区域对应的磁光信号的电平。控制器(28)判断由检测电路(28)检测到的磁光信号电平是否处于许可范围之内。如果在该范围之外，则调节用于热处理的激光束功率，停止磁光盘处理，或者显示代表测量结果的信息。

公开(公告)号：CN1698110A

公开(公告)日：2005-11-16

申请号：CN200480000523.0

申请日：2004-05-21

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 藤田五郎 ,  三木刚 ,  田中靖人 ,  坂本哲洋 ,  藤家和彦

IPC: G11B11/105

CPC classification number: G11B11/10582 ,  G11B11/10523 ,  G11B11/10576 ,  G11B11/10595

Abstract: 一种适合于对磁光记录介质进行退火处理的退火设备，它包括把从激光光源(1)发出的光束光学分离成作为0阶衍射光束的第一光束，和作为1阶衍射光束的第二及第三光束的衍射光学单元(3)，会聚第一光束，把这样会聚的第一光束照射到引导凹槽或在引导凹槽两侧形成的凸台部分的磁性层上，以及会聚第二和第三光束，把这样会聚的第二和第三光束照射到引导凹槽和凸台部分之间的边界部分附近的磁性层上的物镜(5)，和根据基于第一光束的返回光线的光通量的强度分布产生的第一跟踪误差信号的线形特性，控制物镜(5)，从而第一光束沿引导凹槽或凸台部分而行的双轴促动器单元(6)。

公开(公告)号：CN1551170A

公开(公告)日：2004-12-01

申请号：CN200410063147.1

申请日：2004-05-08

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 田中靖人 ,  藤家和彦 ,  藤田五郎 ,  坂本哲洋 ,  三木刚

IPC: G11B11/105

CPC classification number: G11B11/10595 ,  G11B7/00736 ,  G11B7/094 ,  G11B7/0945 ,  G11B11/10576

Abstract: 用光头将信息记录到磁光存储介质和从磁光存储介质重放信息，该介质具有置换层、分离层和记录层，并以此顺序层叠。该置换层由横向磁膜来定义，与记录层相比，该横向磁膜的畴壁矫顽力相对较小而畴壁迁移率较大，分离层由磁层来定义，该磁层的居里温度低于置换层和记录层。设置最佳补偿值，用于使光头跟踪磁光存储介质上提供的记录轨迹。