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公开(公告)号：CN111323423A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201911283887.9
申请日：2019-12-13
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 本申请提供缺陷检测装置及缺陷检测方法，能够检测比像素更小的缺陷的位置以及缺陷的大小。缺陷检测装置具备对测定对象照射照明光的照明部、对由所述测定对象反射后的所述照明光进行拍摄的拍摄部、以及基于由所述拍摄部拍摄所述照明光而得到的拍摄图像对所述测定对象的表面的缺陷进行检测的检测部，所述拍摄图像包括分光波长分别不同的多个分光图像，所述检测部基于多个所述分光图像对所述照明光被扩散反射的扩散反射区域进行检测，并基于检测到所述扩散反射区域的所述分光图像的分光波长来判定缺陷尺寸。
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公开(公告)号：CN104570325B
公开(公告)日：2017-12-05
申请号：CN201410545539.5
申请日：2014-10-15
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
IPC: G02B26/00
Abstract: 本发明提供光学元件、光学装置以及电子设备。光学元件(5)包括：导电性的固定反射膜；与固定反射膜(54)相对的可动反射膜(55)；设置于固定反射膜(54)的与可动反射膜(55)相反侧上的透光性的第二绝缘膜(573)；以及设置在第二绝缘膜(573)的与固定反射膜(54)相反侧上、且在从固定反射膜(54)和可动反射膜(55)的膜厚方向观察的元件俯视观察中，位于固定反射膜(54)、可动反射膜(55)及第二绝缘膜(573)互相重叠的区域内，接收由固定反射膜(54)出射的光的受光部(58)。
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公开(公告)号：CN109990894B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201811602519.1
申请日：2018-12-26
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 提供光检测装置、校正系数计算装置及校正系数计算方法，在使用采用了通用运算放大器的放大电路的情况下也是动态范围较广且高精度。分光测量装置(1)具备：受光元件(61)，接收光并输出受光信号；可变放大电路(63)，放大输入的受光信号；以及暗电压校正部(74)，基于在光未入射至受光元件(61)的环境下增益为预定值以上且为两个以上的各个值时的可变放大电路(63)的输出值来计算暗电压值相对于增益的变化率即校正系数。
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公开(公告)号：CN110220922A
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201910149170.9
申请日：2019-02-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01N21/956 , G01N21/898 , G01N21/25
Abstract: 一种检查装置、检查系统以及检查方法，提供能够迅速地实施针对检查对象的多个项目的检查。检查装置的特征在于，具备：分光摄像部，将来自检查对象的预定的拍摄范围的光分光为多个波长的光，并拍摄各波长的分光图像；形状检查部，使用各波长的所述分光图像中预定波长的分光图像来检查所述检查对象的形状；以及颜色检查部，使用各波长的所述分光图像来检查所述检查对象的颜色。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108663796A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810261967.3
申请日：2018-03-27
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 本申请公开了一种光学模块及光学模块的驱动方法，该光学模块具备：波长可变干涉滤波器，具备一对反射膜和变更所述一对反射膜之间的间隙尺寸的静电致动器；驱动控制部，对所述静电致动器施加周期驱动电压；间隙检测部，检测所述一对反射膜之间的间隙尺寸；受光部，接收来自所述波长可变干涉滤波器的光；以及信号获取部，检测来自所述受光部的受光信号，所述驱动控制部对所述静电致动器施加周期驱动电压，从由所述间隙检测部检测出的所述间隙尺寸的最大值或最小值的检测定时开始，以预定的定时对来自所述受光部的受光信号进行检测。
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公开(公告)号：CN105938015B
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201610118561.0
申请日：2016-03-02
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 本发明提供了能够实施高精度的测色处理的分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法。打印机(10)包括：包括来自测定对象的光入射的波长可变干涉滤波器的分光仪(17)；以及使分光仪(17)相对于测定对象沿着X方向移动的滑架移动单元(14)。并且，打印机(10)在测定对象为色块的情况下，在使分光仪(17)在X方向上移动期间的第一期间，改变通过波长可变干涉滤波器的光的波长并进行分光测定，并在第一期间中的测定开始时以及测定结束时，使初始波长的光从波长可变干涉滤波器通过，把测定开始时的分光测定的测定值即第一输出值与测定结束时的分光测定的测定值即第二输出值进行比较。
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公开(公告)号：CN105987756B
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201610160507.2
申请日：2016-03-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
CPC classification number: H04N1/00023 , G01J3/021 , G01J3/26 , G01J3/52 , G01J2003/466 , H04N1/00005 , H04N1/00034 , H04N1/38 , H04N1/4076 , H04N1/4078 , H04N1/506
Abstract: 本发明提供能够提高测色精度的测色装置、图像形成装置、比色图表及测色方法。打印机使比色图表(3)和分光器相对移动，对比色图表(3)实施分光测定，基于测定值进行色标(31)的测色。该打印机的测色对象即比色图表(3)包括色标(31)和白色部(32)，白色部(32)位于沿Y方向夹着配置有色标(31)的测色位置(Sc)的第一位置(W1)及第二位置(W2)。打印机对测色位置(Sc)、第一位置(W1)及第二位置(W2)实施分光测定而取得测定值，基于第一位置(W1)及第二位置(W2)的测定值，取得与测色位置(Sc)对应的参照值，基于测色位置(Sc)的测定值和参照值，取得色标(31)的测色结果。
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公开(公告)号：CN105946361B
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201610130323.1
申请日：2016-03-08
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
CPC classification number: B41J2/165 , G01J3/0205 , G01J3/0278 , G01J3/0297 , G01J3/524
Abstract: 本发明提供了能够检测由污渍造成的测色精度的降低的图像形成装置以及污渍检测方法。打印机包括喷出油墨的印刷部以及分光入射光的分光器(17)，分光器(17)包括：光通过的窗部(176)；光学滤波器设备(172)，包括作为将通过了窗部(176)的光进行分光的分光元件的波长可变干涉滤波器；以及受光部(173)，接收由波长可变干涉滤波器分光的光，根据对来自基准物的光进行分光测定而得的多个波长中的每个波长相对应的测定值和与多个波长中的每个波长相对应的基准值，检测窗部(176)的污渍。
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公开(公告)号：CN105987756A
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201610160507.2
申请日：2016-03-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
CPC classification number: H04N1/00023 , G01J3/021 , G01J3/26 , G01J3/52 , G01J2003/466 , H04N1/00005 , H04N1/00034 , H04N1/38 , H04N1/4076 , H04N1/4078 , H04N1/506 , G01J3/463 , B41J29/38
Abstract: 本发明提供能够提高测色精度的测色装置、图像形成装置、比色图表及测色方法。打印机使比色图表(3)和分光器相对移动，对比色图表(3)实施分光测定，基于测定值进行色标(31)的测色。该打印机的测色对象即比色图表(3)包括色标(31)和白色部(32)，白色部(32)位于沿Y方向夹着配置有色标(31)的测色位置(Sc)的第一位置(W1)及第二位置(W2)。打印机对测色位置(Sc)、第一位置(W1)及第二位置(W2)实施分光测定而取得测定值，基于第一位置(W1)及第二位置(W2)的测定值，取得与测色位置(Sc)对应的参照值，基于测色位置(Sc)的测定值和参照值，取得色标(31)的测色结果。
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