-
公开(公告)号：CN102175965A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201110006030.X
申请日：2011-01-12
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明提供一种磁卡解码电路的自动化测试方法，通过PC主控设备发送指令请求被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态；PC主控设备再次发送指令通知测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号，所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理后，发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU，被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备，从而完成测试。
-
公开(公告)号：CN101706550A
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200910112806.9
申请日：2009-11-19
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/28 , G06F11/267
Abstract: 本发明提供一种主板的测试方法，包括：准备工作步骤、检测主电源电压是否正常的步骤、检测系统分电源电压是否正常的步骤、检测数据线或地址线是否正常的步骤、判断烧片程序下载是否正确的步骤、判断IO、IIC、SPI、USB、IC卡测试是否正确的步骤、以及判断下电后关机漏电流测试是否正确的步骤。本发明利用自动测试装置进行测试，避免人工测试可能导致的差错，提高了作业效率及降低成本。
-
公开(公告)号：CN103594122B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310561451.8
申请日：2013-11-13
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明涉及一种用于实现存储卡接口测试的逻辑替代方法，其特征在于：利用同等尺寸的印制板替换标准规范的存储卡，且该印制板上具有与该存储卡对应的金手指触点位置，并总结归纳故障真值表以方便故障检测。本发明通过修改测试方法，设计相对应替代测试电路等针对性的提高存储卡测试效率、降低测试配件成本和人工操作成本，增加储存卡测试可靠性及稳定性；优化测试逻辑覆盖，提高自动化测试系统检测故障详细度、改善测试系统的兼容度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105403825A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201511015467.4
申请日：2015-12-31
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
CPC classification number: G01R31/2801 , G01R31/36 , H02J7/0063
Abstract: 本发明涉及一种充电电池电路智能测试管理系统及其方法,包括中央控制模块以及与其相连的电压比较电路、放电电路、被测板连接检测电路、充电电路测试系统，所述电压比较电路还连接有一电压检测电路，所述电压检测电路连接至所述充电电路测试系统中的可充电电池；所述充电电路测试系统与所述放电电路、中央控制模块、被测板连接检测电路、被测板相连。本发明能够实现在不影响被测板电路的前提下进行电池放电,让充电电路测试系统中的电池始终不工作在饱和状态,且延长了测试系统中的电池寿命。
-
公开(公告)号：CN102368076B
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201110325177.5
申请日：2011-10-19
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
Abstract: 本发明公开了一种刷卡速度测试方法及刷卡速度测试设备，所述刷卡速度测试方法包括以下步骤：S1：采集外置磁卡信号，对所述磁卡信号进行处理后送入CPU，触发CPU产生中断，其中所述CPU的中断方式为双边沿触发中断；S2：获取中断时间数据；S3：解析统计所述中断时间数据得到对应阶段的平均基准脉宽时间；S4：根据F2F编码规则解析得到对应阶段编码数据位的脉宽时间；S5：计算数据物理长度与所述数据位的脉宽时间的比值得到磁卡单位运行速度；S6：统计所述单位运行速度得到磁卡的平均运行速度并输出。采用本发明，就能够方便的测试出磁卡的运行速度，在实际使用中，使刷卡用户能够掌握准确的刷卡速度，提高刷卡成功率。
-
公开(公告)号：CN101706550B
公开(公告)日：2012-02-22
申请号：CN200910112806.9
申请日：2009-11-19
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G06F11/267 , G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种主板的测试方法，包括：准备工作步骤、检测主电源电压是否正常的步骤、检测系统分电源电压是否正常的步骤、检测数据线或地址线是否正常的步骤、判断烧片程序下载是否正确的步骤、判断IO、IIC、SPI、USB、IC卡测试是否正确的步骤、以及判断下电后关机漏电流测试是否正确的步骤。本发明利用自动测试装置进行测试，避免人工测试可能导致的差错，提高了作业效率及降低成本。
-
公开(公告)号：CN201909831U
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN201120008044.0
申请日：2011-01-12
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/316
Abstract: 本实用新型提供了一种磁卡解码电路的自动化测试系统，包括用于发送测试指令和接受测试结果的PC主控设备，所述PC主控设备与一内设有CPU和信号转换器的测试设备连接，所述测试设备的CPU与信号转换器连接；所述的信号转换器的输出端与被测磁卡解码电路的输入端连接，所述的被测磁卡解码电路的信号反馈端经被测主板CPU与PC主控设备连接。本实用新型测试成功率高，测试速度快，测试成本低，实现了自动化测试。
-
公开(公告)号：CN202351345U
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201120449188.X
申请日：2011-11-14
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
Abstract: 本实用新型提供了一种PCB板上细间距排针的测试装置，它包括一针床，所述针床上设置有PCB定位销，所述针床的面板上设置有与所述插座相对应的插座定位框，所述插座定位框内设置有与插座中的插针相对应的探针，相邻两探针之间通过探针定位框相隔离，所述探针对应连接于测试装置上的测试电路。本实用新型能够用于高密度插座的测试，而且克服了相邻两根针之间接触导致短路的问题。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
18
records
(took 0.022 seconds)
