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公开(公告)号：CN105765405B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201480064598.9
申请日：2014-11-07
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于探测由辐射源(2)发射的光子并且能够调整弹道亏损的探测设备(6)。所述探测设备(6)包括前置放大单元(11)(诸如，例如，电荷敏感放大器)、包括反馈放电单元(13、I)(诸如，例如反馈电阻器或反馈电流源)的整形单元(60)，以及被耦合到所述反馈放电单元(13、I)的反馈放电控制单元(50)。反馈放电控制单元(50)适于，例如，如果由整形单元(60)生成的电脉冲不超过至少一个能量比较值(X1、X2、…、XN)，则调整反馈电阻器的电阻(和/或调整所述反馈电流源的电流值)。所述反馈放电控制单元(50)适于如果电脉冲超过至少一个能量比较值(X1、X2、…、XN)，则不调整反馈放电单元(13、I)的参数。通过调谐反馈电阻器操作点(或反馈电流源操作点)，弹道亏损能够被调整到预定义期望值。
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公开(公告)号：CN105358063B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201480034846.5
申请日：2014-06-19
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: A61B6/585 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/42 , A61B6/4441 , A61B6/544 , A61B6/545 , A61B6/582
Abstract: 校准方法和相关校准控制器(CC)用于校准成像装置(102)，诸如3D计算机断层摄影成像器或2D X射线成像器。成像装置(102)被装备有动态射束整形器(RF)。动态射束整形器(RF)允许将在成像装置(102)中使用的辐射射束(PR)的能量轮廓适应于要被成像的对象(PAT)的形状。取决于对象的形状和增益图像沿着其被采集的视角，采集多幅增益图像，或从多幅基础增益图像(BGI)合成目标增益图像。
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公开(公告)号：CN108291971A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201680066918.3
申请日：2016-09-15
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及通过将探测器信号与校正信号相叠加来校正探测器信号d。为了提供有效的校正信号，周期性地或随机地提供采样脉冲Ps。该采样脉冲充当用于对处理单元(14)的处理信号p进行采样的发起者，所述处理单元被配置为处理经校正的探测器信号。在对所述处理信号的采样期间，观测所述处理信号。在探测到处理信号处的脉冲的情况下，假设采样不适于校正探测器信号，因为脉冲影响所述处理信号。否则，亦即在采样时段期间未出现这样的处理信号脉冲的情况下，在采样时段之后布置的验证时段期间进一步观测所述处理信号。该验证时段被用于验证处理信号的经采样的处理值是否已经受到即将到来的处理信号处的脉冲的影响。在假设采样为有效的情况下，经采样的处理值被用作提供、特别是设置或更新所述校正信号的依据。经更新或重新设置的校正信号继而改变经校正的探测器信号的基线。作为本发明的效果，可以独立于直接知道X射线源向对象接收空间提供X射线辐射和/或向X射线探测器(42)提供其至少部分的计时来校正所述校正探测器信号的基线。因此，可以将本发明应用于任何X射线成像系统，与知道X射线量子和/或X射线光子何时撞击X射线探测器无关。
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公开(公告)号：CN104024889A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201280061619.2
申请日：2012-12-12
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(2)，包括：辐射敏感半导体元件(10)，其响应于辐射(3)的辐照生成电子空穴对；阳极电极(20)，其被布置在所述半导体元件(10)的面向所述辐射相反方向的第一表面(11)上，所述阳极电极(20)被分割成表示阳极像素的阳极段(21)，其中，阳极间隙(22)被布置在所述阳极段(21)之间；阴极电极(30)，其被布置在所述半导体元件(10)的与所述第一表面(11)相对并且面向所述辐射(3)方向的第二表面(12)上，所述阴极电极(30)被分割成第一阴极段(31)和第二阴极段(32)，其中，所述第一阴极段(31)基本上被布置为与所述阳极段(21)相对，并且所述第二阴极段(32)基本上被布置为与所述阳极间隙(22)相对；以及阴极端子(41、42)，其提供与所述第一阴极段(31)和所述第二阴极段(32)的电连接，以将不同的电势耦合到所述第一阴极段(31)和第二阴极段(32)。通过这样的布置，能够有效减少电荷共享。
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公开(公告)号：CN103890610A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201280051041.2
申请日：2012-10-12
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: H05G1/26 , G01N23/046 , G01T1/17 , G01T1/24 , G01T1/247 , G01T1/2985 , G01T7/005
Abstract: 一种成像系统（300）包括：具有直接转换探测器像素的探测器阵列（314），其探测穿越所述成像系统的检查区域的辐射，并生成指示所探测到的辐射的信号；脉冲成形器（316），其被配置为或者对由所述探测器阵列生成的指示所探测到的辐射的信号进行处理，或者对具有对应于不同的已知能量水平的不同的已知高度的一组测试脉冲进行处理，并被配置为生成具有指示经处理的所探测到的辐射的能量或者经处理的一组测试脉冲的能量的高度的输出脉冲；以及阈值调整器（330），其被配置为结合所述一组测试脉冲的高度以及一组预定的固定阈值，分析对应于所述一组测试脉冲的所述输出脉冲的高度，并被配置为基于所述分析的结果，生成指示基线的阈值调整信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110476086B
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN201880023345.5
申请日：2018-04-04
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明涉及一种脉冲整形器(18)。所述脉冲整形器(18)包括：积分器(19)，其用于生成具有指示探测到的光子的能量的振幅峰值的脉冲；反馈电阻器(22)；可切换放电电路(23)，其用于对所述积分器进行放电；以及峰值检测器(24)，其用于检测所述脉冲的所述峰值。所述脉冲整形器适于基于对检测到所述峰值来开始通过所述可切换放电电路对所述积分器的所述放电，并且在所述脉冲生成的一时段期间将所述反馈电阻器并联地连接到所述积分器，并且在所述脉冲生成的另一时段期间断开所述反馈电阻器。所述脉冲整形器能够为使得脉冲的生成基本上不受任何明显同时的放电机构妨碍，同时能量底台的发生能够被有效地避免。
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公开(公告)号：CN108291971B
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN201680066918.3
申请日：2016-09-15
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及通过将探测器信号与校正信号相叠加来校正探测器信号d。为了提供有效的校正信号，周期性地或随机地提供采样脉冲Ps。该采样脉冲充当用于对处理单元(14)的处理信号p进行采样的发起者，所述处理单元被配置为处理经校正的探测器信号。在对所述处理信号的采样期间，观测所述处理信号。在探测到处理信号处的脉冲的情况下，假设采样不适于校正探测器信号，因为脉冲影响所述处理信号。否则，亦即在采样时段期间未出现这样的处理信号脉冲的情况下，在采样时段之后布置的验证时段期间进一步观测所述处理信号。该验证时段被用于验证处理信号的经采样的处理值是否已经受到即将到来的处理信号处的脉冲的影响。在假设采样为有效的情况下，经采样的处理值被用作提供、特别是设置或更新所述校正信号的依据。经更新或重新设置的校正信号继而改变经校正的探测器信号的基线。作为本发明的效果，可以独立于直接知道X射线源向对象接收空间提供X射线辐射和/或向X射线探测器(42)提供其至少部分的计时来校正所述校正探测器信号的基线。因此，可以将本发明应用于任何X射线成像系统，与知道X射线量子和/或X射线光子何时撞击X射线探测器无关。
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公开(公告)号：CN107809953B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201680038827.9
申请日：2016-06-23
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： C·赫尔曼
Abstract: 本发明涉及一种用于对对象(41)进行成像的X射线设备(1)。所述X射线设备的辐射探测器(3)包括用于探测辐射的探测器元件(21)，每个探测器元件(21)包括可调整敏感体积，其中，进入所述敏感体积的X射线光子产生用于生成图像数据的电信号。此外，所述设备包括控制单元(9)，所述控制单元被配置为根据被成像对象(41)的几何结构来控制所述探测器元件(21)中的至少一个的敏感体积，以降低所述探测器元件中的积聚效应。此外，本发明涉及一种用于操作所述设备(1)的方法以及用于实施所述方法的计算机程序。
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公开(公告)号：CN110582708A
公开(公告)日：2019-12-17
申请号：CN201880028925.3
申请日：2018-04-24
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 一种探测器包括第一探测层(1141)和第二探测层(1142)。所述第一探测层包括第一闪烁体(204、7041)、第一主动感光区域(210、7081)以及第一基板(208、7061)的第一部分(206、7261)，所述第二探测层包括第二闪烁体(216、7042)、第二主动感光区域(220、7082)以及第二基板(208、7062)的第二部分(218、7262)。一种成像系统(100)包括辐射源(110)、包括多个多层探测器(112)的辐射敏感探测器阵列(108)以及被配置为重建所述探测器阵列的输出并且产生图像的重建器(118)。所述探测器阵列包括第一探测器层和第二探测器层，所述第一探测器层具有第一闪烁体、第一主动感光区域以及第一基板的第一部分，所述第二探测器层具有第二闪烁体、第二主动感光区域以及第二基板的第二部分。
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公开(公告)号：CN107110987B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201580068831.5
申请日：2015-12-11
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明涉及一种用于探测电离辐射的探测器(22’)，包括：直接转换半导体层(36)，所述直接转换半导体层用于响应于入射电离辐射来生成载荷子；以及对应于像素的多个电极(34)，所述多个电极用于记录所述载荷子且生成对应于所记录的载荷子的信号；其中，所述多个电极(34)中的一电极被构造成与至少两个相邻电极二维地交织，以通过所述中心电极并通过至少一个相邻电极来记录所述载荷子。本发明还涉及一种探测方法和一种成像设备。
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