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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108398094B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201810112680.4
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最小的标准试件的k范围温度变化斜率曲线为基准，计算其他k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，拟合得到相交时间点序号和涂层厚度的标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108692650B
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201810326465.4
申请日：2018-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
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公开(公告)号：CN109738526A
公开(公告)日：2019-05-10
申请号：CN201910062132.X
申请日：2019-01-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于金属外壳下层弱受力区域定位及尺寸判定方法，先对被测试件表面进行区域划分，获取弱受力区域的边界定位参考数组，然后利用声阻抗原理对弱受力区域进行初步定位，找出弱受力区域的初步轮廓线和轮廓点，最后调整轮廓点与轮廓线，并连接构成闭合区域视作为最终测得的弱受力区域，并计算出区域面积。
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公开(公告)号：CN108413882A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810112679.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0616
Abstract: 本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间-涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间-涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN207963758U
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201820517876.7
申请日：2018-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本实用新型公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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