直流母线电容容值检测方法、容值检测终端、供电系统

    公开(公告)号:CN114814378A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210473371.6

    申请日:2022-04-29

    Abstract: 本发明提供了一种直流母线电容容值检测方法、容值检测终端、供电系统,所述直流母线电容的两侧分别连接有不同变流方向的变流模块;所述直流母线电容容值检测方法包括:获取每侧变流模块中变流开关的工作状态及每侧变流模块的交流侧相电流;根据每侧变流模块中变流开关的工作状态及每侧变流模块的交流侧相电流确定每侧变流模块与所述直流母线电容的连接侧电流;基于每侧变流模块与所述直流母线电容的连接侧电流确定所述直流母线电容的电容电流;获取直流母线电压,根据所述直流母线电压以及所述直流母线电容的电容电流确定所述直流母线电容的容值。本发明提供了一种在线的直流电容容值检测方案,检测方便、准确性高且成本更低。

    三相数据处理方法、数据采集设备以及电路控制系统

    公开(公告)号:CN114034925A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111162955.3

    申请日:2021-09-30

    Abstract: 本发明提供了一种三相数据处理方法、数据采集设备以及电路控制系统,该方法包括:获取目标电路对应的三相数据;基于预设关系式对三相数据进行变换,得到三相数据对应的正负序DQ分量,预设关系式为三相参数的有功分量、三相参数的无功分量与三相参数的正负序DQ分量之间的矩阵变换式,三相参数为三相数据对应的参数;将正负序DQ分量发送至外部的控制设备,以使控制设备根据正负序DQ分量生成目标电路对应的控制信号。本发明通过预设关系式可直接将三相数据变换为正负序DQ分量,对于每个数据采集设备,本发明仅需传输4个变量即可支持后续控制操作,不仅有效提高了数据传输效率,还有利于提高后续控制的实时性和准确性。

    并机控制方法及装置、并机系统

    公开(公告)号:CN114070010A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202111166038.2

    申请日:2021-09-30

    Abstract: 本发明提供了一种并机控制方法及装置、并机系统,该方法应用于并机系统中的各个开关电源电路,并机系统由至少两个并联连接的开关电源电路构成;该方法包括:获取本机开关电源电路的电压直流分量,基于电压直流分量及预设的电压直流分量参考值确定电压直流分量误差;获取各个开关电源电路的电流直流分量,基于各个开关电源电路的电流直流分量确定本机开关电源电路的电流直流分量调节量;基于电压直流分量误差及电流直流分量调节量确定本机开关电源电路的参考相电压调整量;根据参考相电压调整量对本机的预设参考相电压进行调整,基于调整后的参考相电压对本机开关电源电路进行均流控制。本发明能够有效抑制直流环流,更好地实现均流控制。

    一种变换电路的控制方法及控制装置

    公开(公告)号:CN113691136A

    公开(公告)日:2021-11-23

    申请号:CN202110870329.3

    申请日:2021-07-30

    Abstract: 本发明公开了一种变换电路的控制方法及控制装置,所述控制方法包括:获取变换电路的电参数以及预设的且与电参数对应的预设值;基于该电参数和预设值得到第一控制量;对第一控制量进行比例调节和限幅处理得到第二控制量,对第一控制量进行限幅处理得到第三控制量,并使第二控制量和/或第三控制量跟随所述第一控制量线性变化;采用第二控制量和第三控制量分别控制降压模块和升压模块。所述控制装置与控制方法对应。本发明的控制方法及控制装置,适于防止变换电路的输出电压过压,简化控制复杂度并提高电路的工作稳定性。

    电容寿命检测方法、装置及终端设备

    公开(公告)号:CN113608046A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110849903.7

    申请日:2021-07-27

    Abstract: 本发明提供了一种电容寿命检测方法、装置及终端设备,该方法包括:获取目标电路在空载状态和带载状态下的控制信息、待检测电容在目标检测时段的主路电流值和邻近支路电流值,并基于所述控制信息对所述主路电流值进行优化,基于优化后的主路电流值以及所述邻近支路电流值确定待检测电容在目标检测时段的电流值;获取待检测电容在目标检测时段的电压值,并基于所述控制信息对所述电压值进行优化;根据优化后的电压值、电流值确定待检测电容在目标检测时段的电容值,基于所述电容值确定待检测电容的寿命。本发明提供的电容寿命检测方法、装置及终端设备能够在不增加额外硬件的前提下实现电容寿命检测,检测成本更低。

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