公开(公告)号：CN115053129A

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN202080095562.2

申请日：2020-12-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 田代晃 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明的试样支承体具备：具有形成有多个贯通孔的测量区域的绝缘性的基板；框架，在该框架以与测量区域对应的方式形成了在第1面和第2面开口的开口部，该框架以在从基板的厚度方向观察时开口部与测量区域重叠的方式形成在第1表面上；粘接基板和框架的、具有相比于开口部的内表面更向测量区域侧突出的突出部的粘接层；和导电层，其具有：沿开口部的内表面设置的第1部分；沿测量区域的第1表面设置的第2部分；和以连接第1部分和第2部分的方式沿突出部的表面设置的第3部分。

公开(公告)号：CN114072667A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202080049154.3

申请日：2020-04-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 田代晃 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62

Abstract: 试样支撑体是用于将试样电离的试样支撑体。试样支撑体具备：膜部，其具有第一表面及第一背面，形成有在第一表面及第一背面开口的多个贯通孔；支撑部，其针对膜部划定用于将试样电离的测定区域，且支撑膜部。支撑部包含：内侧部分，其具有第二表面及第二背面，固定有膜部；外侧部分，其具有第三表面及第三背面，沿着内侧部分的外缘延伸。在膜部的厚度方向上在第一表面的位置和第三表面的位置之间产生的差小于膜部的厚度。

公开(公告)号：CN113574374B

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN201980094247.5

申请日：2019-12-11

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: G01N27/626 ,  G01N27/64

Abstract: 试样支承体具备：基板，其形成有在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔；框架，其在从基板的厚度方向观察的情况下以包围基板的测量区域的方式形成，并支承基板；和保护层，其以与第1表面相对的方式配置，且具有与测量区域相对的相对部分。在相对部分形成有沿厚度方向贯通的贯通孔。相对部分的贯通孔包括宽度窄部，该宽度窄部具有比用于向测量区域滴下试样溶液的移液管吸头的前端的外径小的宽度。

公开(公告)号：CN116635715A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202180083877.X

申请日：2021-10-14

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: G01N27/62

Abstract: 样品支承体具备：基板；和多孔质层，其设置在基板上，并且具有与基板相反的一侧的表面。多孔质层包括主体层，该主体层具有在表面开口的多个孔。多个孔分别包括沿基板的厚度方向延伸的延伸部和从延伸部中的表面侧的端部朝向表面扩宽的开口部。多个孔的深度的平均值为3μm以上且100μm以下。深度的平均值除以多个孔的宽度的平均值而得到的值为9以上且2500以下。

公开(公告)号：CN115244394A

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202180018608.5

申请日：2021-01-15

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: G01N27/64 ,  G01N1/28 ,  H01J49/04

Abstract: 试样支承体是用于试样的成分的离子化的试样支承体，并且具备：基板，其具有第1表面、与第1表面相反侧的第2表面、以及在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔；导电层，其至少设置于第1表面；和阳离子化剂，其设置于多个贯通孔并且用于通过规定的原子使成分阳离子化。

公开(公告)号：CN115210562A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202180018609.X

申请日：2021-01-15

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: G01N27/64 ,  G01N1/28 ,  H01J49/04

Abstract: 试样支承体是用于试样的成分的离子化的试样支承体，并且具备：基板，其具有第1表面、与第1表面相反侧的第2表面、以及在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔；导电层，其至少设置于第1表面；和阴离子化剂，其设置于多个贯通孔并且用于使成分阴离子化。

公开(公告)号：CN113574631A

公开(公告)日：2021-10-29

申请号：CN202080021823.6

申请日：2020-01-23

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: H01J49/10 ,  G01N27/62

Abstract: 本发明的试样支撑体是用于试样的电离的试样支撑体，其具备：基板，其具有第一表面、及与第一表面为相反侧的第二表面、以及在第一表面及第二表面的各个开口的多个贯通孔；导电层，其设置于第一表面上；以及基质结晶层，其设置于导电层上及第二表面上的至少一方，基质结晶层以包含将多个贯通孔和外部连通的间隙的方式，由多个基质晶粒形成。