成分测量装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101430286B

    公开(公告)日:2011-07-06

    申请号:CN200810186920.1

    申请日:2004-05-21

    Inventor: 近藤晃 长泽靖

    Abstract: 一种成分测量装置,包括:组件安装部,可自由拆装地安装具有试验部位的组件;测光部,具有在进行测量时向组件的试验部位投射光的发光元件、对由试验部位反射的反射光进行受光的受光元件以及收纳、保持发光元件和受光元件的支持件;以及具有遮光性的测试组件,可自由拆装地安装在组件安装部上,在支持件中形成有光和反射光通过的通道,在支持件的面向试验部位的部分设置有透光性部件,具有污物检测装置,在组件安装部上安装了测试组件的状态下,从测光部的发光元件投射光,由受光元件受光,根据该受光元件的受光光量,检测透光性部件的污物,污物检测装置在透光性部件的污物检测中,当受光元件的受光光量大于阈值时判断为在透光性部件上存在污物。

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