公开(公告)号：CN1955634A

公开(公告)日：2007-05-02

申请号：CN200610135964.2

申请日：2006-10-16

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 山下吉弘 ,  中岛浩贵 ,  河内雅弘

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/02

CPC classification number: G01B11/026

Abstract: 本发明在能够简单地变更动作距离和测定范围的同时，也能变确保更后的测量精度。在传感器头部(1)中，通过相应于准直透镜(6)以及音叉(8)的振动而往复移动的一对聚光透镜(7a、7b)，生成平行光或者近似平行光，并由光出入口(11)射出。在光出入口(11)以可装卸地安装支承物镜(12)的透镜架(13)。从光出入口(11)射出的光通过物镜(12)被加工为在规定位置聚光的测量光束(BM)。

公开(公告)号：CN1670470A

公开(公告)日：2005-09-21

申请号：CN200510055074.6

申请日：2005-03-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 中下直哉 ,  嶋田浩二 ,  川合喜典 ,  河内雅弘

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/06

Abstract: 提供一种能够高速地进行数据读取处理的位移传感器装置。位移传感器装置包括：用于按规定角度对测量对象物照射光的发光元件；用于对被照射光的测量对象物从不同角度进行摄像的摄像元件；可在摄像元件的视野内设定通常测量区域的通常测量区域设定部件；通过对设定的通常测量区域进行扫描，检测摄像元件的视野内的照射光像的位置的照射光像位置检测部件；对包含被检测出的照射光像的位置并比通常测量区域窄的至少一个跟踪型测量区域进行设定的跟踪型测量区域设定部件；通过对跟踪型测量区域进行测量而测量作为目标的位移的位移测量部件；以及输出由位移测量部件测量出的位移的输出部件。

公开(公告)号：CN1376895A

公开(公告)日：2002-10-30

申请号：CN02107961.7

申请日：2002-03-25

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 冈田道俊 ,  松永达也 ,  河内雅弘 ,  真野光治

IPC: G01B21/20 ,  G06T1/00 ,  G06T7/00

CPC classification number: G01B11/25

Abstract: 本发明提供一种即使对例如表面反射率不同、在表面上存在凹槽、在表面上存在倾斜面、在表面上存在曲面的这样的计量对像物体上也能使用能高精度的计量断面轮廓线的窄断面光切断法的光学式计量装置。该装置具有:取得摄影条件不同的多幅图像的多图像取得装置、图像合成装置,该图像合成装置在每个预先设定的划分的区域从通过多图像取得装置取得的多幅图像中抽出包含满足规定的鲜明度条件的断面轮廓线部分的图像,并通过收集这些抽出的各划分的区域图像而生成包含一连串的断面轮廓部分像;还包括根据包含在由图像合成装置生成的合成图像中的一连串断面轮廓线图像部分像通过进行规定的计量处理而生成计量值和/或判定值。

公开(公告)号：CN3418534D

公开(公告)日：2005-01-12

申请号：CN200430060305.9

申请日：2004-06-10

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 大庭仁志 ,  河内雅弘 ,  井上宏之

公开(公告)号：CN3418760D

公开(公告)日：2005-01-12

申请号：CN200430060307.8

申请日：2004-06-10

Applicant: 欧姆龙株式会社

Designer： 大庭仁志 ,  河内雅弘 ,  井上宏之