公开(公告)号：CN211352196U

公开(公告)日：2020-08-25

申请号：CN202020152290.2

申请日：2020-02-04

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 朱爱军 ,  赵春霞 ,  古展其 ,  牛军浩 ,  胡聪 ,  许川佩 ,  宋丁鑫

IPC: H04B10/03 ,  H04B10/075 ,  G06F15/173 ,  G06F15/78

Abstract: 本实用新型涉及一种光路由器的故障模拟装置，解决的是不能模拟故障的技术问题，通过采用包括n个相互连接的微环谐振器故障模拟子单元，故障模拟子单元的输入接口模拟光路由器信号输入端口，故障模拟子单元的输出接口模拟光路由器信号输出端口；所述故障模拟子单元为多路选择器，多路选择器用于模拟微环谐振器的谐振状态正常态和故障态的技术方案，较好的解决了该问题，可用于光路由器故障模拟器中。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

公开(公告)号：CN215492359U

公开(公告)日：2022-01-11

申请号：CN202120900454.X

申请日：2021-04-26

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 朱爱军 ,  古展其 ,  胡聪 ,  牛军浩 ,  许川佩 ,  万春霆

IPC: G01M11/00

Abstract: 本实用新型公开了一种二进制全光全加器的故障模拟装置，该装置针对MRR在实际生产和使用过程中会发生故障的问题，建立了基于MRR故障的全光全加器故障模拟装置。所提出的故障模拟装置由测试信号发生器，控制信号发生器，微环谐振器及分支耦合器构成片上光网络结构。测试信号发生器持续向输入端口CW输入高电平信号，控制信号发生器分别向三个MRR发送控制信号使其处于谐振或非谐振状态。在测试信号输入期间，不断改变谐振器上的控制信号，并加入模拟的MRR故障，观察CO和Y端口的输出信号，对收集到的信号进行分析和判断。