公开(公告)号：CN110088603B

公开(公告)日：2020-06-09

申请号：CN201780078045.2

申请日：2017-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明目的在于提供一种荧光X射线分析装置，结构简单能迅速进行高精度分析。本发明荧光X射线分析装置包括X射线源(100)，向样品(103)照射1次X射线；分光元件(120)，对样品(103)产生的2次X射线分光；能量分散型检测器(110)，测量2次X射线强度；退让机构(108)，使分光元件(120)从2次X射线路径退让；扫描机构(114)，在副测量区域(124)与主测量区域(122)之间连续移动检测器(110)，副测量区域在分光元件(120)退让机构退让状态测量2次X射线，主测量区域测量分光后的2次X射线；存储装置(116)，预先存储副测量区域(124)测量出的本底强度与主测量区域(122)测量出的本底强度的比率；运算装置(118)，进行从主测量区域(122)测量强度减副测量区域(124)本底强度乘以所述比率得到的值的校正，定量分析。

公开(公告)号：CN106537188B

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201580039683.4

申请日：2015-05-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01R13/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  H01J35/14 ,  H01J35/30 ,  H05G1/26

Abstract: 本发明的X射线检测信号处理器(10)等包括：比较器(17)，该比较器(17)在来自具有CR电路(13a)的连续复位型的前置放大器(13)的信号的电平没有超过规定的上限值的场合，发出高电平的信号，在超过规定的上限值的场合，发出低电平的信号；控制部(18)，该控制部(18)以规定时间而使来自该比较器(17)的信号从低电平变高电平的过程延迟，将其输出给时钟振荡器(15)，通过将低电平的信号输出给时钟振荡器(15)，停止振荡，由此，停止高速AD转换器(14)的高速AD转换，维持输出值。

公开(公告)号：CN104076050A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410109755.5

申请日：2014-03-24

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01T1/16 ,  G01T1/40 ,  G01T7/00

Abstract: 本发明涉及一种X射线分析装置，其包括：第1补偿机构(13A、13B)，该第1补偿机构(13A、13B)基于通过计数机构(10A、10B)所求得的计数率的总数，推测出通过计数机构(10A、10B)得到的能量谱中的波峰位置，并输出初始值，该初始值是用于将该推测出的波峰位置与基准位置一致化的增益值；第2补偿机构(14A、14B)，该第2补偿机构(14A、14B)在通过计数机构(10A、10B)得到的能量谱中，在包括基准位置的规定的能量范围内检测波峰位置，输出动态增益补偿值，该动态增益补偿值是用于将该检测出的波峰位置与基准位置一致化的增益值。