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公开(公告)号：CN101188183B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200710085081.X
申请日：2007-02-28
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , H01J49/429
Abstract: 本发明的质量分析计和质量分析装置由导入用离子源生成的离子并且施加RF电压的四重极棒电极和检测所排出的离子的检测机构构成，其特征在于：在棒轴向形成质量依存的电势，从电势的极小点附近质量选择地向轴向排出离子；此外，通过在插入棒电极之间的插入电极上施加静电电压和RF电压，形成质量选择的电势。根据本发明，实现排出效率高、排出能量低的线性阱。
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