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公开(公告)号：CN105916445B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201580004487.3
申请日：2015-01-23
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 为了提供一种能够从投影数据高精度地复原测量数据并去除测量数据中包含的系统噪声的技术，信号处理装置对数据收集装置的输出信号进行处理，得到包含0以下的信号值的测量数据(x)，通过包含对数函数的预定的函数对测量数据(x)进行变换处理从而生成投影数据(对数变换后数据(z))，预定的函数是针对规定负数(s)以上的值存在逆函数的函数，通过对投影数据应用逆函数，从而能够从投影数据复原包含规定范围的0以下的信号值的测量数据(x)。
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公开(公告)号：CN106572832A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201580034343.2
申请日：2015-07-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: A61B6/5294 , A61B6/032 , A61B6/0457 , A61B6/5205 , A61B6/545 , G06T11/003 , G06T11/006 , G06T2211/424
Abstract: 本发明为了提供在对图像进行重构时的反投影处理或正投影处理中，设靠近的像素、射束重叠并进行考虑了像素、射束的重叠的运算，由此能够均匀地利用数据来抑制莫尔条纹等高频误差的产生的数据处理方法等，在根据投影数据对图像进行重构的处理中，图像处理装置(122)进行将像素尺寸设定得比像素间隔大，使用与靠近的像素的重叠量相应的尺寸依赖权重(像素窗口)来计算分配给像素或射束的内插值的反投影处理或正投影处理，并进行将射束尺寸设定得比射束间隔大，使用与靠近的射束的重叠量相应的尺寸依赖权重(射束窗口)来计算分配给像素或射束的内插值的反投影处理或正投影处理。
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公开(公告)号：CN104066378B
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201380005062.5
申请日：2013-03-14
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G06T5/002 , A61B6/032 , A61B6/5205 , G06T5/005 , G06T5/50 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/20224 , G06T2207/30004 , G06T2211/40
Abstract: 为了提供一种能够生成保持构造物的边缘且去除条纹状的伪影的目标图像的图像处理装置等，运算装置基于原图像和平滑化图像的特征量来决定非线性函数的形状(S101)。接着，运算装置通过在上述(S101)中决定形状的非线性函数来计算原图像以及平滑化图像的状态系数(S102)。接着，运算装置使用在上述(S102)中计算的状态系数，针对原图像以及平滑化图像的各像素来计算加权系数(S103)。接着，运算装置进行原图像和平滑化图像的加权相加，生成目标图像(S104)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105451658B
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201480041695.6
申请日：2014-08-06
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: A61B6/5258 , A61B6/032 , A61B6/5205 , A61B6/542 , A61B6/544
Abstract: 为了提供从输出信号值(测量数据)中降低系统噪声的技术，X射线CT装置具有：对被检体照射X射线的X射线产生部；检测透过被检体的X射线的X射线检测器；对所述X射线检测器的输出信号进行校正的校正处理部；和根据所述校正处理部的输出来重构图像的重构运算部，所述X射线检测器包含被排列的检测元件，所述校正处理部一边维持以所述检测元件之中关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的平均值，一边缩减以所述关注的检测元件为中心的给定的多个检测元件的输出信号值的方差。
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公开(公告)号：CN107530043A
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201680026040.0
申请日：2016-06-22
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 为利用逐次近似法，用较少的更新次数生成重建图像，接受被检体的预定的断层图像，将断层图像作为初始图像，重复两次以上通过逐次近似法进行更新处理来获得更新图像的处理，并生成将与所生成的两次更新处理的更新图像的差相当的更新向量乘以预定的系数倍的预测更新向量，使用预测更新向量来生成预测更新图像，将预测更新图像作为新的初始图像，重复通过逐次近似法进行更新处理来获得更新图像的处理，由此生成被检体的断层图像。
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公开(公告)号：CN106687045A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201580044700.3
申请日：2015-10-07
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明提供即使在大部分测量视角下被检体凸出到参考通道的情况下也能进行高精度参考校正的数据处理装置等，为此，X射线CT装置的图像处理装置(数据处理装置)计算出空气校准时测量得到的参考值的每单位管电流的值、即单位空气校准参考值，根据正式拍摄时的输出管电流值和单位空气校准参考值求出符合正式拍摄的X射线条件的参考值(推定参考值)，另外经校正使得正式拍摄时测量参考值以推定参考值进行标准化得到的标准化参考数据收敛于允许误差范围内，从而去除凸出的影响。
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公开(公告)号：CN106028938B
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201580010291.5
申请日：2015-03-25
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
Abstract: 为了提供一种在体轴方向上变宽且有角度地照射X射线的情况下，能够针对动态变化的X射线照射区域求出最佳的X射线剂量，可靠地进行照射的X射线CT装置等，X射线CT装置(1)使X射线照射区域(201)在拍摄过程中针对每个视角动态地变化，系统控制装置(124)根据各视角的X射线照射区域(201)的位置，使用于计算最佳管电流的解析线(300)的位置在拍摄过程中变化来求出最佳的照射X射线剂量，例如在多层CT中的螺旋扫描等的拍摄开始附近或结束附近，X射线照射区域位于向X射线源的切片位置和体轴方向偏离的位置的情况下，能够对该X射线照射区域求出适当的照射X射线剂量。
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公开(公告)号：CN104768468B
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201380058300.9
申请日：2013-11-28
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/5258 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/405 , A61B6/4435 , A61B6/488 , A61B6/5205 , A61B6/5294 , A61B6/54 , A61B6/542 , A61B6/544 , A61B6/545 , G06T7/0012 , G06T2207/10081 , G06T2207/10144 , G06T2207/30004 , H05G1/34 , H05G1/46
Abstract: 本发明提供一种尽管抑制了X射线管的管电流值，画质的降低也少的X射线CT装置，本发明的X射线CT装置的特征在于，具备：X射线源，其具备X射线管，对被检查者照射X射线；X射线检测器，其检测从X射线源照射并透射了被检查者的透射X射线；旋转机构，其搭载X射线源和所述X射线检测器，在被检查者的周围旋转；系统控制装置，其基于在多个逐次近似处理条件中选择出的逐次近似处理条件以及被输入的拍摄条件以及/或者重构条件来运算X射线管的管电流值，通过所运算出的所述X射线管的管电流值来进行拍摄；和图像重构装置，其根据由X射线检测器检测出的、基于所运算出的所述X射线管的管电流值从X射线源照射至被检查者、且透射了被检查者的X射线量，并基于选择出的所述逐次近似处理条件以及所述重构条件，对被检查者的断层图像进行重构。
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