公开(公告)号：CN102076267A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN200980125008.8

申请日：2009-06-15

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 木口雅史 ,  舟根司 ,  宇都木契 ,  铃木敦

IPC: A61B10/00 ,  A61B5/1455 ,  G01N21/27

CPC classification number: A61B5/0059 ,  A61B5/02028 ,  A61B5/0261 ,  G01N21/359 ,  G01N21/4795 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/3144

Abstract: 本发明提供一种光计测装置。其是使用荧光体的近红外分光装置。不使光线和电子电路接触被检体地，用光观测被检体内的信息。使小型轻量的荧光体接触被检体，并在相离的位置上计测荧光强度。

公开(公告)号：CN101923557A

公开(公告)日：2010-12-22

申请号：CN201010115725.7

申请日：2010-02-11

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 宇都木契

IPC: G06F17/30

CPC classification number: G06F17/30286 ,  G06F2216/03

Abstract: 本发明提供一种数据分析系统及方法，目的在于高效率地保存在分析处理的中间阶段生成的数据来再利用中间数据。保存有在分析的中间阶段生成的数据，把与所保存的数据对应的反馈信息定量化的结果作为评价值来接收，优先删除未赋予评价值的中间数据，另一方面，对于接收了特别高的评价值的中间数据，进行类似的数据的分析处理，为了能够高速进行成为比较对象的数据的分析或派生设想的分析，通过后台处理进行中间数据的自动管理。