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公开(公告)号：CN1285589A
公开(公告)日：2001-02-28
申请号：CN00121786.0
申请日：2000-08-01
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/123 , G11B7/1275 , G11B2007/0006 , H01S5/02216 , H01S5/02244 , H01S5/02252 , H01S5/02292 , H01S5/02296 , H01S5/0683 , H01S5/4087
Abstract: 所公开发明的主题是集成光头,以便使用一个单独的信息记录和再现设备,把信息记录到包括CD和DVD的不同类型光盘上和从其上再现信息。解决方案是集成多个有不同波长的半导体激光器和一个反射镜,在用OEIC、PD模式形成的基片上有附标对准。
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公开(公告)号：CN1231898C
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN99816264.7
申请日：1999-08-04
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/0901 , G11B7/123 , G11B7/127 , G11B7/1275 , G11B2007/0006
Abstract: 将多块半导体激光芯片和与聚焦透镜的跟踪控制方向垂直的安装面连接起来的激光头。当安装多块半导体激光芯片时在面内方向发生散乱的激光头中，即便进行跟踪控制，也能够减少光点功率的变动。在第1图中，使与多块半导体激光芯片(4a，4b)连接的激光芯片安装面(2)与聚焦透镜(13)的跟踪控制方向(14)垂直地配置。
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公开(公告)号：CN1495739A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03128462.0
申请日：1999-08-04
Applicant: 株式会社日立制作所 , 株式会社瑞萨东日本半导体
Abstract: 本发明涉及装载半导体激光芯片和反射面的激光模块，为高精度确定半导体激光芯片的位置，同时缩短生产时间、实现小型化和低成本，使在硅基板上设置的反射面上具有台阶，通过将这些反射面作为出射激光的反射面和激光芯片的位置确定面，可高精度确定位置。对于记录中需要大功率的激光模块，在与半导体激光芯片纵向方向的侧面相对的倾斜面上设置台阶，在从激光芯片的下部电极的下陷底部到硅基板上部的布线中，设置与激光芯片的纵向方向成角度的倾斜面来平缓斜面，经过该平缓斜面缓解迁移的产生。
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公开(公告)号：CN1357140A
公开(公告)日：2002-07-03
申请号：CN99816696.0
申请日：1999-08-04
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立东部半导体株式会社 , 日立原町电子工业株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , G02B6/4201 , G02B6/4214 , G11B7/123 , G11B7/1275 , G11B2007/0006 , H01S5/02252 , H01S5/02272 , H01S5/02292 , H01S5/4087
Abstract: 本发明涉及装载半导体激光芯片和反射面的激光模块,为高精度确定半导体激光芯片的位置,同时缩短生产时间、实现小型化和低成本,使在硅基板上设置的反射面上具有台阶,通过将这些反射面作为出射激光的反射面和激光芯片的位置确定面,可高精度确定位置。对于记录中需要大功率的激光模块,在与半导体激光芯片纵向方向的侧面相对的倾斜面上设置台阶,在从激光芯片的下部电极的下陷底部到硅基板上部的布线中,设置与激光芯片的纵向方向成角度的倾斜面来平缓斜面,经过该平缓斜面缓解迁移的产生。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN1014647B
公开(公告)日：1991-11-06
申请号：CN85101872
申请日：1985-04-01
Abstract: 利用棱镜的折射来变换光束形状的光学系统包括复合棱镜、复合棱镜至少由两种折射色散彼此不同的材料构成的棱镜组成。光学信息处理仪器包括应用这些棱镜的光学系统。这种光学系统的几何光学性质是不受光束波长变化的影响的，而波长变化是由光源振动波长的色散，时间流程的变化，环境温度的变化和/或发射光能的改变诸因素引起。利用这种光学系统进行信息处理就能实现不受光束波长变化的影响。
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公开(公告)号：CN85101872A
公开(公告)日：1986-10-01
申请号：CN85101872
申请日：1985-04-01
Abstract: 利用棱镜的折射来变换光束形状的光学系统是复合棱镜的棱镜光学系统。复合棱镜至少由两种折射色散彼此不同的材料造成的棱镜组成。光学信息处理仪器包括应用棱镜的光学系统。这种光学系统的几何光学性质对光束波长的变化不敏感，而波长变化是由光源振动波长的弥散、随时间流程的变化、环境温度的变化以及发射光能的改变诸因素引起。利用这种光学系统进行信息处理就能实现不受无束波长变化的影响。
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公开(公告)号：CN1252700C
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN03108484.2
申请日：1999-02-13
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/00718 , G11B7/0903 , G11B7/0909 , G11B7/094 , G11B7/0941 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/1367 , G11B7/1381 , G11B2007/0006
Abstract: 一种信息重放方法，通过照射激光束和检测从记录介质来的反射光而重放该介质上记录的信息，其特征在于包括下列步骤：检测反射光束强度分布上的极性变化基本上互相相反的多个反射光，该分布变化是在所述激光束的光点横切所述介质上的道时产生的，所述介质上的导引槽的宽度基本等于道间距的1/2；求取所述多个反射光的各个焦点偏离误差信号的和，以产生一个焦点偏离误差信号；以及求出所述多个反射光的各跟踪误差信号之间的差，以产生一个跟踪误差信号。
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公开(公告)号：CN1155955C
公开(公告)日：2004-06-30
申请号：CN01112051.7
申请日：2001-03-23
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/123 , G11B7/0901 , G11B7/0908 , G11B7/0916 , G11B7/094 , G11B7/127 , G11B7/131 , G11B7/1359 , G11B7/13922
Abstract: 在具有不同波长的多个半导体激光器芯片的光读写头中，降低了相对于光轴以一个角度投射的激光束产生的彗形象差。为此，具有发散特性的向上的光束整形棱镜放在聚焦透镜的入射侧。较长波长的半导体激光器芯片的位置更靠近由折射得到的折射光束的延伸线。
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