公开(公告)号：CN1831951A

公开(公告)日：2006-09-13

申请号：CN200510137629.1

申请日：2005-12-26

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 青柳由果

IPC: G11B5/667 ,  G11B5/73 ,  G11B5/012

CPC classification number: G11B5/11 ,  G11B5/667 ,  G11B2005/0029

Abstract: 一种磁盘装置，包括磁记录介质(20)和磁头(50)，所述磁记录介质(20)包括基片(21)，数据记录层，其被形成在所述基片(21)的一个表面上并包括磁记录层(24)，以及屏蔽层，其被形成在所述基片(21)的另一个表面上，并包括软磁性层(25)而无磁记录层。

公开(公告)号：CN104810029A

公开(公告)日：2015-07-29

申请号：CN201410228973.0

申请日：2014-05-28

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 青柳由果 ,  小岛秀一 ,  渡边彻

IPC: G11B5/56

CPC classification number: G11B5/6076 ,  G11B5/607

Abstract: 根据实施方式，提供在盘存储装置中检测头的下触的方法。所述盘存储装置具备构成为在盘上浮起的头。所述头具备写入元件、读取元件、头盘干涉传感器即H D I传感器以及加热器元件。所述H D I传感器构成为检测在所述头和所述盘之间作用的热干涉。所述加热器元件构成为通过根据向该加热器元件供给的加热器功率来使所述头热变形而使所述头向所述盘的表面的方向突出。所述方法向所述加热器元件供给交流的加热器功率。所述方法使所述加热器功率阶段地增加。所述方法还检测与所述增加的加热器功率对应的所述HDI传感器的输出信号的相位，并基于所述检测的相位的变化来检测所述下触。

公开(公告)号：CN1494058A

公开(公告)日：2004-05-05

申请号：CN03160225.8

申请日：2003-09-28

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 青柳由果 ,  下村和人 ,  竹尾昭彥 ,  渥美胜

IPC: G11B5/127 ,  G11B5/31 ,  G11B5/00

CPC classification number: G11B5/012 ,  G11B5/1278 ,  G11B5/3116 ,  G11B2005/001 ,  G11B2005/0013 ,  G11B2005/0029

Abstract: 本发明披露了一种磁头(1)，其包括主磁极(10)和返回磁轭(11)。所述磁头(1)即使在磁盘(2)的软磁层饱和时也能抑制在返回磁轭(11)的边沿发生的侧写。所述磁头(1)还包括被用作写磁头的单极型磁头。