公开(公告)号：CN102429677A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110223189.7

申请日：2011-08-05

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝医疗系统株式会社

Inventor： 松田圭史 ,  中山道人 ,  南部修也 ,  金丸俊 ,  桥本笃 ,  佐乡朋英

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/00 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4488

Abstract: 本发明提供一种能够减轻或消除在使用加热器温控各检测元件时产生的恶劣影响的X射线检测器以及X射线CT装置。根据一个实施方式涉及的X射线检测器包括多个检测包与多个加热器。上述各检测包具备多个检测透过被检体的X射线、输出与该X射线对应的检测信号的检测元件，并沿规定的方向排列。上述各加热器分别对上述各检测包而设置，独立地温控上述各检测包。

公开(公告)号：CN104825182B

公开(公告)日：2017-09-29

申请号：CN201510067437.1

申请日：2015-02-09

Applicant: 东芝医疗系统株式会社

Inventor： 南部修也 ,  山崎敬之 ,  松田圭史 ,  矶真知子 ,  桥本笃 ,  西岛辉 ,  金丸俊 ,  宫间恒一 ,  梅原隆哉

IPC: A61B6/03

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01T1/2985

Abstract: 本发明提供能够提高生成图像的画质的X射线CT装置。X射线CT装置具备：X射线管，绕被检体的体轴旋转，产生X射线；X射线检测器，具有在切片方向及通道方向上排列有多个检测透射了被检体的X射线的第一检测元件的第一检测区域和在切片方向及通道方向上排列有多个在切片方向上的宽度比该第一检测元件小的第二检测元件、且至少一部分与第一检测区域在通道方向上排列配置的第二检测区域；读取部，读取X射线的信号；以及读取控制部，根据第一检测元件的大小与第二检测元件的大小之间的差异，调整从该第一检测元件及该第二检测元件读取信号的定时，使得从切片方向上处于对应的位置的第一检测元件及第二检测元件分别读取信号的时间差变小。

公开(公告)号：CN102525526B

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201110290355.5

申请日：2011-09-21

Applicant: 东芝医疗系统株式会社

Inventor： 矶真知子 ,  八百井佳明 ,  松田圭史 ,  南部修也 ,  金丸俊 ,  谷口昭彦

IPC: A61B6/03 ,  G01T1/20 ,  G21K1/02

CPC classification number: A61B6/03 ,  A61B6/4291 ,  G21K1/025 ,  G21K2207/00 ,  Y10T29/49826

Abstract: 本发明涉及X射线CT装置、放射线检测器及其制造方法，能够获得准直仪板的板厚和间距均匀的准直仪。本发明的X射线CT装置具备X射线检测部和准直仪部。X射线检测部检测透过被检体的X射线。准直仪部从入射至所述X射线检测部的射线中除去散射线。在此，准直仪部具备多个准直仪模块、支承部及固定部。多个准直仪模块分别具有沿相互正交的信道方向及切片方向格子状配置的多个第一准直仪板。支承部将所述多个准直仪模块排列在沿所述信道方向的多条直线上及沿所述切片方向的多条直线上并进行支承。固定部设置于所述支承部，并固定所述多个准直仪模块在所述信道方向及所述切片方向上的位置。

公开(公告)号：CN104936523B

公开(公告)日：2018-08-07

申请号：CN201480004772.0

申请日：2014-01-28

Applicant: 东芝医疗系统株式会社

Inventor： 松田圭史

IPC: A61B6/03

Abstract: 医用图像处理装置具备:拍摄指示部,指示对患者进行拍摄而取得拍摄数据;期间判定部,在所述患者的拍摄之前判定基于所述指示的所述患者的拍摄时是对应于X射线检测器的温度稳定的第期间,还是对应于温度没有稳定的第二期间;以及数据校正部,在所述拍摄时对应于所述第二期间的情况下,使用紧急时用校正数据对所取得的所述拍摄数据进行校正,另方面,在所述拍摄时对应于所述第期间的情况下,使用通常时用校正数据对所取得的所述拍摄数据进行校正。

公开(公告)号：CN1298286C

公开(公告)日：2007-02-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。

公开(公告)号：CN1415274A

公开(公告)日：2003-05-07

申请号：CN02147979.8

申请日：2002-10-31

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 中西知 ,  松田圭史 ,  信藤康孝 ,  奥村美和

IPC: A61B6/03

CPC classification number: A61B6/587 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/542 ,  A61B6/56

Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。