公开(公告)号：CN115752715A

公开(公告)日：2023-03-07

申请号：CN202210183326.7

申请日：2022-02-28

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： T·T·塔 ,  崔明秀 ,  杉本俊贵

IPC: G01J1/42

Abstract: 本公开的光检测装置能够使放热、串扰减少且高速地检测微弱光。光检测装置具备：光检测元件；复位电路，在所述光检测元件检测到光之后将所述光检测元件的一端设定为初始化电压，并且具有能够使供给至所述光检测元件的一端的电流可变的可变电流源；以及控制电路，在从所述光检测元件检测到光起至所述光检测元件的一端被设定为所述初始化电压为止的期间，使所述可变电流源向所述光检测元件的一端供给的电流阶梯式地或连续地增加。

公开(公告)号：CN114910882A

公开(公告)日：2022-08-16

申请号：CN202110979483.4

申请日：2021-08-25

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： T·T·塔 ,  崔明秀 ,  杉本俊贵

IPC: G01S7/481

Abstract: 本发明提供光检测装置以及电子装置。本发明的一个实施方式涉及光检测装置以及电子装置。提供可靠性以及灵敏度优良且能够实现小型化和低消耗电力化的光检测装置以及电子装置。光检测装置具备：受光元件，对入射光进行光电变换；以及多个晶体管，用于控制施加到所述受光元件的偏置电压和控制所述受光元件的输出信号的读出，所述多个晶体管至少包括具有第1耐压的一个以上的晶体管和具有比所述第1耐压高的第2耐压的一个以上的晶体管。

公开(公告)号：CN112540385A

公开(公告)日：2021-03-23

申请号：CN202010155438.2

申请日：2020-03-09

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： T·T·塔 ,  崔明秀 ,  大国英德 ,  杉本俊贵

IPC: G01S17/931 ,  G01S17/10 ,  G01S17/89 ,  G01S7/4863

Abstract: 本发明的实施方式涉及光检测装置以及电子装置。光检测装置具备：阵列，具有隔着第1间隔配置的多个第1受光元件，该阵列将接收到的光变换为第1信号；多个第2受光元件，具有第1串扰率，将接收到的光变换为第2信号，该多个第2受光元件的受光面被遮光；多个第3受光元件，具有与所述第1串扰率不同的第2串扰率，将接收到的光变换为第3信号，该多个第3受光元件的表面被遮光；以及控制部，根据所述第2信号和所述第3信号来控制所述阵列的动作点。

公开(公告)号：CN112540361A

公开(公告)日：2021-03-23

申请号：CN202010155416.6

申请日：2020-03-09

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： T·T·塔 ,  崔明秀 ,  大国英德 ,  杉本俊贵

IPC: G01S7/481 ,  G01S7/486 ,  G01S7/4865 ,  G01S17/08 ,  G01S17/894 ,  G01S17/931

Abstract: 本发明的实施方式涉及光检测装置以及电子装置。光检测装置具备：受光阵列，具有能够切换为接收光的开启状态或者不接收光的关闭状态的多个受光元件；以及控制部，在由受光阵列接收来自第1方向的光的情况下，将多个受光元件中的被决定为被照射来自第1方向的光的区域与能够受光的区域至少一部分重复的1个以上的受光元件控制成开启状态，将除此以外的受光元件控制成关闭状态。

公开(公告)号：CN111273308A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN201910861327.0

申请日：2019-09-12

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 近藤智史 ,  大国英德 ,  T·T·塔 ,  崔明秀

IPC: G01S17/32 ,  G01S7/4865 ,  G01S7/4861

Abstract: 本发明的实施方式涉及半导体电路以及距离测量装置。半导体电路具备：振荡器，根据第1输入信号输出频率的振荡信号；计数器，测量所述振荡信号的周期数；第1电路，在时钟信号的第1时钟周期内，基于由所述计数器测量出的第1周期数，输出将所述第1输入信号进行数字变换而得到的第1数字信号；以及第2电路，在从所述时钟信号的基准时间点到所述时钟信号的时钟周期内的第2输入信号的输入定时为止的期间，基于由所述计数器测量的第2周期数，输出第2数字信号。