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公开(公告)号：CN106506074B
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201610889803.6
申请日：2016-10-12
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04B10/079 , H04L12/26
Abstract: 本申请提供一种检测光口状态的方法和装置，应用于框式交换机设备，所述方法包括：可编程逻辑芯片实时检测光模块的RX_LOS信号；如果RX_LOS信号取值发生变化，可编程逻辑芯片将检测到的RX_LOS信号所对应的取值写入CPU可访问的预设内存空间中；通过可编程逻辑芯片中断信号，将所述预设内存空间中的取值上报至CPU，以由CPU根据所述预设内存空间中的取值所指示的光口状态进行光口link down检测。采用本申请提供的技术方案，可以加快光口link down检测速度，降低CPU的使用率以及提高设备的可靠性。
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公开(公告)号：CN108092922A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201711374686.0
申请日：2017-12-19
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04L12/931 , H04L12/935
Abstract: 本申请提供一种接口板传输报文的方法和装置，应用于框式交换机，其中，所述框式交换机包括若干接口板和若干网板，所述接口板通过内部口与所述网板进行连接，所述接口板基于连接的不同网板生成对应的聚合组，其中，所述聚合组包括所述接口板上与所述网板连接的内部口，所述框式交换机中任一接口板传输报文的方法，包括：当接收到报文时，判断所述报文的报文类型；基于所述报文类型确定所述报文的目标网板；将所述报文传输至所述目标网板。采用本申请提供的技术方法，可以充分利用框式交换机中接口板上的内部口资源。
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公开(公告)号：CN107423027A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710608212.1
申请日：2017-07-24
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
Inventor： 刘小兵
IPC: G06F9/30
CPC classification number: G06F9/3012 , G06F9/30101
Abstract: 本申请提供了一种光模块的信息读取方法、装置和系统。本申请中CPU先确定待读取光模块的命令存放位，再在命令存放位中存放控制命令。FPGA检测到控制命令后开始读取命令存放位对应的光模块信息，读取完毕后清除控制命令，CPU周期性检查命令存放位中是否还存在控制命令，当控制命令不存在时，从存储空间中获取FPGA存放的光模块信息。与现有技术相比，本申请读取光模块信息的工作交由FPGA来处理，与现有技术中CPU直接通过I2C总线读取光模块信息相比，耗时短，CPU不会长时间处于繁忙状态且定时器正常工作。
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公开(公告)号：CN106909375A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710085629.4
申请日：2017-02-17
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: G06F9/44
CPC classification number: G06F9/4411
Abstract: 本申请提供一种端口状态的获取装置及方法，可一方面通过将对端口状态进行监测的任务移交至感应值监测单元的方式，有效节省了中央处理单元的宝贵资源；另一方面，则通过将感应值监测单元经由端口状态感应单元获取到的端口状态变化消息及时地反馈给中央处理单元的机制，实现了中央处理单元对模块适配端口端口状态的及时获取。
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公开(公告)号：CN106506265A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610940120.9
申请日：2016-10-25
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04L12/26
CPC classification number: H04L43/08 , H04L43/0829 , H04L43/16
Abstract: 本申请提供一种检测FPGA芯片挂死的方法及装置，所述方法包括：在预设时间周期内，针对所述交换芯片上的每个端口，获取该端口的收包统计值和发包统计值，以及与该端口连接的所述FPGA芯片上的端口的丢包统计值，并判断所述发包统计值是否不为零且所述收包统计值与所述丢包统计值之和小于第一预设数值，若是，则将出错次数加1；判断所述出错次数是否高于第二预设数值；若是，则确定所述FPGA芯片挂死。本申请通过收包统计值、发包统计值以及丢包统计值判断端口是否出错，并根据出错端口数便可确定FPGA芯片是否挂死，而不需要人工进行检测，提高了检测实时性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107423027B
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN201710608212.1
申请日：2017-07-24
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
Inventor： 刘小兵
IPC: G06F9/30
Abstract: 本申请提供了一种光模块的信息读取方法、装置和系统。本申请中CPU先确定待读取光模块的命令存放位，再在命令存放位中存放控制命令。FPGA检测到控制命令后开始读取命令存放位对应的光模块信息，读取完毕后清除控制命令，CPU周期性检查命令存放位中是否还存在控制命令，当控制命令不存在时，从存储空间中获取FPGA存放的光模块信息。与现有技术相比，本申请读取光模块信息的工作交由FPGA来处理，与现有技术中CPU直接通过I2C总线读取光模块信息相比，耗时短，CPU不会长时间处于繁忙状态且定时器正常工作。
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公开(公告)号：CN110990021A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911193996.1
申请日：2019-11-28
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: G06F8/41
Abstract: 本申请提供一种软件运行方法、装置、主控板及框式设备。所述方法应用于框式设备的主控板，包括：在启动操作系统时，从读取的编译文件中获取产品标识，其中，编译文件支持多个软件的代码逻辑，以及包括多个产品标识，产品标识唯一标识其中一个软件的产品类型；从主控板关联的EEPROM中读取与产品标识匹配的指定字段，EEPROM的指定字段中存储有一个软件的产品标识；根据所读取的指定字段获取软件运行的相关数据；根据相关数据运行所述软件。多个软件代码生成一个编译文件，节约编译时间，减小占用空间；通过指定字段与编译文件中的产品标识匹配，可快速运行软件；需要切换软件时修改指定字段即可实现切换，操作便利，提高切换效率。
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公开(公告)号：CN106506265B
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201610940120.9
申请日：2016-10-25
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04L12/26
Abstract: 本申请提供一种检测FPGA芯片挂死的方法及装置，所述方法包括：在预设时间周期内，针对所述交换芯片上的每个端口，获取该端口的收包统计值和发包统计值，以及与该端口连接的所述FPGA芯片上的端口的丢包统计值，并判断所述发包统计值是否不为零且所述收包统计值与所述丢包统计值之和小于第一预设数值，若是，则将出错次数加1；判断所述出错次数是否高于第二预设数值；若是，则确定所述FPGA芯片挂死。本申请通过收包统计值、发包统计值以及丢包统计值判断端口是否出错，并根据出错端口数便可确定FPGA芯片是否挂死，而不需要人工进行检测，提高了检测实时性。
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公开(公告)号：CN109861879A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910042859.1
申请日：2019-01-17
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04L12/26 , H04L12/931 , H04L12/725 , H04L12/741
Abstract: 本申请提供了一种接口性能测试系统，包括：辅助测试单板，其上设有带宽为A的第一辅助接口、第二辅助接口，第一辅助接口、第二辅助接口分别与测试仪的第一测试口、第二测试口采用物理线路进行连接；第一接口板和第二接口板，每一接口板上分别设有m个带宽为B的被测单板接口，且B/A＝C、C为正整数；第一接口板上的m个被测单板接口和第二接口板上的m个被测单板接口之间形成串接的测试链路；测试链路中的首端被测单板接口可接收第一辅助接口和第二辅助接口中任一方输入的数据量为A的测试流量，使得测试流量沿测试链路循环流转C次之后，由测试链路中的末端被测单板接口输出至第一辅助接口和第二辅助接口中的另一方，以由另一方输出至测试仪。
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公开(公告)号：CN106506074A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610889803.6
申请日：2016-10-12
Applicant: 杭州迪普科技股份有限公司
IPC: H04B10/079 , H04L12/26
CPC classification number: H04B10/0791 , H04L43/0811
Abstract: 本申请提供一种检测光口状态的方法和装置，应用于框式交换机设备，所述方法包括：可编程逻辑芯片实时检测光模块的RX_LOS信号；如果RX_LOS信号取值发生变化，可编程逻辑芯片将检测到的RX_LOS信号所对应的取值写入CPU可访问的预设内存空间中；通过可编程逻辑芯片中断信号，将所述预设内存空间中的取值上报至CPU，以由CPU根据所述预设内存空间中的取值所指示的光口状态进行光口link down检测。采用本申请提供的技术方案，可以加快光口link down检测速度，降低CPU的使用率以及提高设备的可靠性。
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