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发明公开
一种基于移位寄存器的STM-N帧B2校验方法有权转让

公开(公告)号：CN104618051A

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201410849732.8

申请日：2014-12-29

Applicant: 曙光信息产业(北京)有限公司

Inventor： 张磊 , 窦晓光 , 杨恩山 , 甯青松 , 耿雄飞 , 纪奎 , 李静

IPC: H04J3/16 , H04L1/00

Abstract: 本发明提供一种基于移位寄存器的STM-N帧B2校验方法，该方法首先A移位寄存模块实时检验STM-N帧的64bit并行数据，最后B移位寄存模块存储A移位寄存模块的结果，等待与第N+1帧的B2部分比较。本发明利用芯片的专用资源，降低了电路复杂度，减少了对通用资源的使用，设计电路移植快。

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