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公开(公告)号：CN114112818B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202111473539.5
申请日：2021-11-29
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明提供一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置，气溶胶颗粒电离方法包括：确定多段粒径范围；初始化每段粒径范围的计数为0；开始计时，并对空气中的气溶胶颗粒进行采样，得到颗粒信号；在每个单位采样周期内，根据颗粒信号确定对应气溶胶颗粒的粒径及粒径所属的粒径范围；判断粒径范围的计数是否为1；若粒径范围的计数为1，则继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样；若粒径范围的计数为0，则产生电离信号，对气溶胶颗粒进行电离，并将对应的粒径范围的计数置1，继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样。通过限定对某一段粒径范围的颗粒打击一次后，不再进行此粒径段的再次打击，提高了对大颗粒和小颗粒的打击概率。
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公开(公告)号：CN110954449A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201911388897.9
申请日：2019-12-30
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，包括：S1，通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正；S2，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；S3，根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正，可提高质量精度，实现更精细化的质量分辨，提高颗粒成分识别准确性。
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公开(公告)号：CN116840010A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310806271.5
申请日：2023-07-03
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种雾化室进气装置，属于化学检测分析技术领域，包括雾化室，雾化室具有前腔和后腔，前腔内设有雾化器，雾化器位于前腔的部分至少设有两个气体压缩环，至少两个气体压缩环分隔前腔为至少两个缓冲区域，至少两个缓冲区域与雾化室的体积比为I，1/3≤I＜1/2；前腔的一侧设有鞘气进口，鞘气进口与距离后腔最远的缓冲区域相连通；气体压缩环与前腔的内壁形成供气体通过的缝隙，沿雾化室的周向，不同位置处的缝隙大小相等，相邻缓冲区域以及缓冲区域与后腔之间通过缝隙相连通，通过上述的方式，使得仅一端设置鞘气进口且总缓冲区体积较小的雾化室也能得到气流流场分布趋于均匀的气流，减少样品碰壁或相互碰撞产生的损失，提高进样效率。
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公开(公告)号：CN112605069B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202011479929.9
申请日：2020-12-15
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开一种用于清洁质谱仪离子源极片的自动清洗装置，包括离子源单元、红外激光单元和仪器壳体，其中，红外激光单元包括激光发射组件和聚焦透镜，使用时，调整红外激光单元的位置，使其位于离子源极片的底部，激光发射组件开启，调整聚焦透镜与激光发射组件的位置，便于激光光斑聚焦，移动红外激光单元以便将离子源极片中的离子束孔周围的区域临时加热到80‑250℃之间，并保持10min左右的时间，使得沉积在离子源极片中的离子束孔周围的区域的电绝缘体涂层在真空高温中升华而蒸发，从而实现在不需要手动拆卸仪器的情况下自动清洗离子源极片，同时，聚焦透镜与激光发射组件之间的距离能够调整，提高自动清洗装置的使用效率。
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