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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110651205A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201880031905.1
申请日：2018-05-14
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G02B5/30 , G02F1/1335 , G02F1/13363 , G09F9/30 , H01L27/32 , H01L51/50
Abstract: 本发明涉及一种圆偏振膜，其具备起偏镜、配置于该起偏镜的一侧的相位差膜、以及配置于该起偏镜的另一侧的保护层，上述相位差膜具有将直线偏振光转换成圆偏振光或椭圆偏振光的功能，其厚度为35μm以下，且上述相位差膜的两面在划痕试验中的破坏起始负载不同，将上述破坏起始负载高的一侧设为第1面、将低的一侧设为第2面时，上述起偏镜贴合于上述相位差膜的第1面。本发明的圆偏振膜的抗冲击性、再操作性优异，并且可抑制卷曲。
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公开(公告)号：CN119255949A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202380041885.7
申请日：2023-04-06
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明提供伤痕及污垢的产生得到了显著抑制的膜制品的运送方法。本发明的一个实施方式的膜制品的运送方法包括：从原膜切出给定尺寸的膜制品；准备具有比膜制品的尺寸大的尺寸、且包含第1基材和第1粘合剂层的第1捆包用膜；准备具有比膜制品的尺寸大的尺寸、且包含第2基材和第2粘合剂层的第2捆包用膜；在第1捆包用膜的第1粘合剂层面临时贴合多个膜制品，形成捆包中间体；以及，以覆盖多个膜制品的方式将第2捆包用膜经由第2粘合剂层临时贴合于捆包中间体，形成捆包体。
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公开(公告)号：CN118613717A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202280090324.1
申请日：2022-11-21
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/896 , G01N21/89
Abstract: 提供能够高精度且高效地检查长条光学膜的长条光学膜的检查方法。本发明中检查的长条光学膜(F)被预先标记了与长条光学膜中的缺陷(D)的位置信息建立了关联的第一标识(M)。在本发明的宏观检查工序(ST2)中，通过读取第一标识，取得缺陷的位置信息，将拍摄视场比长条光学膜的宽度窄第一拍摄机构(6)的拍摄视场(VF1)的位置控制成能够拍摄该缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)确定缺陷的准确的位置信息。在本发明的微观检查工序(ST3)中，基于在宏观检查工序中确定的缺陷的准确的位置信息，将与第一拍摄机构相比拍摄视场窄且拍摄倍率高的第二拍摄机构的拍摄视场(VF2)的位置控制成能够拍摄缺陷，拍摄长条光学膜，由图像处理机构(8)取得缺陷的详细信息。
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公开(公告)号：CN110562779A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910480157.1
申请日：2019-06-04
Applicant: 日东电工株式会社
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够抑制偏光膜端部发生卷绕凹陷的偏光膜卷的制造方法。本发明的偏光膜卷制造方法的特征在于，包含将偏光膜卷绕于卷芯的工序，所述偏光膜的厚度为100μm以下，且长度为500m以上4000m以下，在所述工序中，以从卷绕量达到500m以上时开始至卷绕结束为止通过下式(1)算出的张力成为30N以上150N以下的方式，一边施加张力y，一边将偏光膜卷绕于卷芯。张力y＝a{1－(bx/400000)}(1)a：卷绕开始时的张力(a＞30N)b：锥度比(％)＝{(卷绕开始时的张力－假定卷绕4000m时的张力)/卷绕开始时的张力}×100x：卷绕量(500m≤x≤4000m)。
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