试样分析仪
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102621338B

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201210095126.2

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明提供一种用第一试剂和第二试剂分析试样的试样分析仪,包括:第一试剂容器固定器,该第一试剂容器盛放第一试剂,有一个第一记录元件,记录着用于所述第一试剂管理的第一试剂管理信息;第二试剂容器固定器,该第二试剂容器盛放第二试剂,有一个第二记录元件;信息读取装置;判断部分;登录部分;测定装置;及处理器。本发明还提供一种在试样分析仪中用第一试剂和第二试剂对试样进行分析的分析方法。

    样本分析装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102565437B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201110305782.6

    申请日:2011-10-11

    Inventor: 若宫裕二

    CPC classification number: G01N35/025 G01N35/0092

    Abstract: 本发明公开了一种样本分析装置,包括:分装样本用的样本分装部件;可沿运送路线固定数个反应容器,并沿运送路线依次运送反应容器的样本运送部件;处理站,包括固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行处理的数个处理部件;移送部件,在运送路线上的取出位置取出反应容器,并将其移送到某一个处理部件,处理步骤完毕后,再将反应容器移送到运送路线上的返还位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;及用于实施样本处理作业的控制部件。控制部件判断是不是数个处理部件中的某一个发生了异常,当某一个处理部件发生了异常时,改变样本分装时间,以便用发生了异常的处理部件之外的处理部件继续进行样本处理作业。

    标本分析仪及标本分析方法

    公开(公告)号:CN101393225B

    公开(公告)日:2012-08-29

    申请号:CN200810149310.4

    申请日:2008-09-17

    Abstract: 本说明书公开一种标本分析仪,包括:预定受理单元,接受表示分析内容的分析预定;分析装置,根据上述预定受理单元受理的分析预定进行标本分析;标本指定单元,接受对标本的指定;第一获取单元,获取到上述标本指定单元接受指定的标本的分析结束所需要的分析剩余时间或上述标本分析结束的分析结束时间;第二获取单元,获取到上述分析装置完成所有标本分析所需要的全部分析剩余时间或上述分析装置完成所有标本分析的全部分析结束时间;显示器;及显示控制单元,在上述显示器显示上述第一获取单元获得的分析剩余时间或分析结束时间和上述第二获取单元获得的全部分析剩余时间或全部分析结束时间。同时,本说明书还公开一种分析标本的方法。

    样本分析装置
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102565437A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201110305782.6

    申请日:2011-10-11

    Inventor: 若宫裕二

    CPC classification number: G01N35/025 G01N35/0092

    Abstract: 本发明公开了一种样本分析装置,包括:分装样本用的样本分装部件;可沿运送路线固定数个反应容器,并沿运送路线依次运送反应容器的样本运送部件;处理站,包括固定反应容器,并对各反应容器中的样本进行处理的数个处理部件;移送部件,在运送路线上的取出位置取出反应容器,并将其移送到某一个处理部件,处理步骤完毕后,再将反应容器移送到运送路线上的返还位置,以此在数个处理部件和样本运送部件之间移送反应容器;及用于实施样本处理作业的控制部件。控制部件判断是不是数个处理部件中的某一个发生了异常,当某一个处理部件发生了异常时,改变样本分装时间,以便用发生了异常的处理部件之外的处理部件继续进行样本处理作业。

    显示装置、检体测定系统、显示方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN112130717B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202010563522.8

    申请日:2020-06-19

    Abstract: 本发明公开显示装置、检体测定系统、显示方法以及记录介质。不论用户面向的方向都易于掌握检体测定系统的结构部件的实际的位置。提供一种显示装置(6、60),显示与测定检体的检体测定系统(1)有关的信息,所述显示装置具有:显示部(509);显示控制部(101),将表示所述检体测定系统中的预定部分的配置的图像显示于所述显示部;以及受理部(102、105),受理与显示所述预定部分的配置时的显示方向有关的信息,所述显示控制部(101)根据所述信息,变更所述预定部分的配置的显示方向。根据该方式,依照接受到信息的显示方向,变更显示检体测定系统中的预定部分的配置时的显示方向。

    样本分析系统的控制方法及样本分析系统

    公开(公告)号:CN115032408A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202210206633.2

    申请日:2022-03-04

    Abstract: 本发明提供一种在精度管理物质测定中用户作业负担小的样本分析系统的控制方法。作为实施方式一例的样本分析系统的控制方法适用于至少包括1个测定单元的样本分析系统。该方法包括以下作业:按照用户预先登记的日程,自动启动样本分析系统所含一个或者复数个测定单元,向启动的测定单元自动供应精度管理样本,通过启动的测定单元测定精度管理样本。

    样本分析系统和装置、清洗液制备装置及清洗液供应方法

    公开(公告)号:CN113391080A

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN202110725252.0

    申请日:2016-10-14

    Abstract: 本发明提供一种能够使新制备的清洗液占存放的清洗液的大部分并能用存放的清洗液迅速清洗样本分析装置的样本分析系统、清洗液制备装置、样本分析装置以及清洗液供应方法。清洗液的制备方法包括:在存放部件存放清洗样本分析装置所使用的清洗液,使用所述存放部件中存放的所述清洗液,所述存放部件内的所述清洗液的余量低于第一量时,向所述存放部件补给清洗液,在满足了预先设定的条件时,在使得用于向所述存放部件供应清洗液的流路的阀关闭的状态下,使用所述清洗液直至所述存放部件内的所述清洗液的余量变为比所述第一量少的第二量,之后,打开所述阀,向所述存放部件补给清洗液。

    样本分析装置
    19.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102914662B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201210273051.2

    申请日:2012-08-02

    CPC classification number: G01N35/00584 G01N35/00603 G01N35/0092 G01N35/025

    Abstract: 在本发明中,测定部件2具有能够旋转的反应台200,因此,即使在作业异常导致了大量的反应杯的测定作业中止时,也能够迅速开始新样本的测定。控制部件4收到开始测定的指示后,检测出反应台200上残留的反应杯。当有残留反应杯时,控制部件判断这些残留反应杯是否会产生干扰,如果不会产生干扰,则将新样本放置在反应台200上,并旋转反应台200,依次进行处理。随着上述作业,残留反应杯被移送至运送终点C56,由排液部件282吸移并除去残液后,将反应杯废弃到废弃孔W。

    试样分析装置和试剂管理方法

    公开(公告)号:CN102192995B

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201110027243.0

    申请日:2011-01-26

    Inventor: 若宫裕二

    CPC classification number: G01N35/00732 G01N2035/00851 Y10T436/2575

    Abstract: 本发明提供一种试样分析装置以及试剂管理方法,至少组合使用第1试剂和第2试剂来进行规定的测定项目的分析。所述试样分析装置包括:试剂容器保持部,能够保持收容所述第1试剂并具备第1存储介质的第1试剂容器、和收容所述第2试剂并具备第2存储介质的第2试剂容器;以及控制部,其中,所述控制部进行用于将用于确定与所述第1试剂容器成对的所述第2试剂容器的特定信息写入到该第1试剂容器的所述第1存储介质中的控制。

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