公开(公告)号：CN101512323B

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN200780033180.1

申请日：2007-09-10

Applicant: 大日本印刷株式会社

Inventor： 伊藤洁

IPC: G01N21/94

CPC classification number: G01N21/94 ,  G01N21/4738

Abstract: 本发明提供可适用于各种部件、再现性高、可检测微妙的污迹差异的防污性定量的污染性评价方法、污染性评价装置、光学部件的制造方法、以及具有防指纹附着性、抗污染性、从污染的恢复度的光学叠层体、和具有该光学叠层体的显示器产品。本发明的染性评价方法对试验体照射光，检测在该试验体上反射或透射的散射光，评价上述试验体的表面的污染程度。

公开(公告)号：CN101410247A

公开(公告)日：2009-04-15

申请号：CN200780011431.6

申请日：2007-03-30

Applicant: 大日本印刷株式会社

Inventor： 中岛正隆 ,  木下阳子 ,  伊藤洁

IPC: B32B7/02 ,  B32B27/00 ,  G02B1/10 ,  G02B1/11

CPC classification number: G02B1/14 ,  G02B1/105 ,  G02B1/11 ,  G02B1/16 ,  Y10T428/26 ,  Y10T428/31504 ,  Y10T428/31507 ,  Y10T428/31533 ,  Y10T428/31938

Abstract: 本发明提供光学层积体和光学层积体的制造方法，所述光学层积体兼备优异的抗静电性能和密合性。该光学层积体通过在透光性基材上依次形成抗静电层和硬膜层而构成，在上述层积体的截面外观上，上述硬膜层的截面纹样存在于从硬膜层经由抗静电层到透光性基材中。