光学头的跟踪误差检测方法及光学头装置

    公开(公告)号:CN1565021A

    公开(公告)日:2005-01-12

    申请号:CN02819590.6

    申请日:2002-10-04

    Inventor: 三宅隆浩

    Abstract: 来自光盘的反射光的一部分光入射至衍射元件(10)。来自该衍射元件(10)的±1级衍射光及0级衍射光通过柱面透镜(11)及聚焦透镜(12),入射至光检测器(13)。这时,在物镜位移时,衍射元件(10)上的光束也位移,落在四分割受光元件(13a)的受光区(A、B、C、D)的0级衍射光的光点强度分布在整体上变亮,落在受光元件(13b、13c)的受光区(E、F)的±1级衍射光的光点强度分布在整体上变暗。这样,本发明将提供能够进行很好的跟踪控制的光学头的跟踪误差检测方法及光学头装置。

    光定位装置以及搭载有该装置的电子设备

    公开(公告)号:CN102317889A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201080007915.5

    申请日:2010-01-15

    CPC classification number: G06F3/042 G06F3/03547 G06F2203/0338

    Abstract: 根据本发明,从LED光源(16)射出的光透射作为折射元件的棱镜(12)的倾斜面(13)并折射之后,照明接触面(11)。所述照明光经接触面(11)上的被摄体漫反射,而后该漫反射光的一部分透射棱镜(12)并经由倾斜面(13)而变换光其路,继而通过作为成像元件的透镜(14)形成像。摄像元件(15)取得作为图像数据的所述像。通过图像处理,能够从摄像元件(15)所提供的图像数据中提取接触面(11)的变化,以及获得被摄体的移动量和移动方向。由此,能够实现薄小型的光定位装置。

    光拾取装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100470645C

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200510089347.9

    申请日:2005-07-22

    CPC classification number: G11B7/1398 G11B7/0903 G11B7/1353

    Abstract: 本发明的光拾取装置,以能不增加部件数而改善再现信号的分辨力,且在组装光拾取装置时省略衍射光栅的位置调整为目的,包括,半导体激光器(1)、衍射光栅(3)、物镜(5)及推挽信号检测部(10)。衍射光栅(3)将半导体激光器(1)出射的光变为0次衍射光和一对±1次衍射光。设定所述衍射光栅(3),使沿从光轴近旁到周边部方向,减小0次衍射光强度的下降率,同时减小一对±1次衍射光各自的强度。因此,整形0次衍射光使强度分布平坦,一对±1次衍射光,其光轴近旁的光束相对于外缘部的光束,光强度更大。从而,能改变再现信号的分辨力,组装时能省略衍射光栅的位置调整。

    拾光器球面像差补偿方法和拾光装置

    公开(公告)号:CN101086864A

    公开(公告)日:2007-12-12

    申请号:CN200710101307.0

    申请日:2003-06-20

    Abstract: 拾光器(22)将读取光束照射到靠主轴电机(30)旋转的光盘(40),并接收其反射光。激光发生元件(21)产生的激光束透射穿过为校正光盘透射基片的厚度误差带来的球面像差而设置的液晶板(25)后,被引导到物镜(26)。控制电路(50)使球面像差校正信号(SA)变化,在光检测器(31)的输出变化大的区域进行多个取样,并且用运算处理求出近似曲线上的顶点位置,作为校正量。由此,能在短时间内准确检测出校正因光盘厚度误差而产生的球面像差用的校正量。

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