公开(公告)号：CN115325932B

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202211025556.7

申请日：2022-08-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 邢旭 ,  王嘉宁 ,  孙启凡 ,  孙云科 ,  胡鹏程 ,  谭久彬

IPC: G01B9/02055 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明是一种外差激光干涉仪光功率与对比度变化引起探测误差的等效测试装置。本发明涉及外差激光干涉仪探测误差测量技术领域，本发明为了针对外差激光干涉仪光功率和对比度变化引起的探测误差测量困难、干扰因素众多的问题。通过调节干涉光的光功率和对比度等效待测目标的偏摆造成的对比度和光功率降低，能够分离位移、振动、空气扰动等干扰因素的影响。本发明外有着光路简洁、元器件少的特点，利于工程实现，并且在实现难易度、测量精度等方面都具有优势。

公开(公告)号：CN118729931A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410961227.6

申请日：2024-07-18

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 胡鹏程 ,  孙云科 ,  谢逸非 ,  邢旭

IPC: G01B9/02

Abstract: 基于等效电源原理的外差干涉仪光电时延测量系统及其测量方法，涉及外差激光干涉仪光电时延测量技术领域。针对外差激光干涉仪光电转化时延测量的过程中，现有测量方案与干涉仪的波长、带宽不适配，实施过程复杂，因耦合测试装置延迟而测量精度低等问题，基于光敏二极管的等效电路和等效电源原理，设计能够等效光电探测器时延特性的板卡，并通过测量其相移得到光电探测器内的电延迟；随后叠加光敏二极管的上升时间，获得光电探测器的时间延迟。本发明具备实施便捷、无需昂贵参考器件、适用范围广、无额外延迟耦合而测量准确的优点，尤其在设备研发与器件校准等方面具有突出优势。

公开(公告)号：CN113671521A

公开(公告)日：2021-11-19

申请号：CN202110925287.9

申请日：2021-08-12

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨宏兴 ,  李婧 ,  胡鹏程 ,  邢旭 ,  谭久彬

IPC: G01S17/36

Abstract: 本发明是一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法。本发明测距装置包括多频率发生模块、激光调制模块、测量光路和光信号接收及处理模块；测距方法开启激光器和多频率发生模块；激光经过调制产生精测尺c/v1、次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f，其中通过频率为v3和v3+f信号进行差频调制产生粗测尺c/f；激光分成参考光和测量光并测距；对精测尺进行频率为v1‑f1的差频解调并探测差频信号f1获取精测结果，探测次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f并获取相位，合成相位差数据得到被测距离。本发明打破了激光干涉相干长度、探测器件带宽、调制带宽的限制，可实现在未来数十万千米的测量范围需求中达到亚毫米甚至微米级的精确测量。