-
公开(公告)号：CN106525816A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611122379.9
申请日：2016-12-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65
Abstract: 本发明涉及一种非接触式安全检查系统及方法，系统包括：激光源(1)，用于将探测光线检物体(4)上；光学收集器件，用于收集探测光线(11)在被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对激发光的拉曼光谱特征进行分析，以确定被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止探测光线(11)在容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入光学收集器件的感应区域。本发明有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。(11)穿过容器(3)或包装物并投射到其包含的被
-
公开(公告)号：CN106769898B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201611249038.8
申请日：2016-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/25
Abstract: 本发明的实施例提供了一种多分辨率光谱仪。该多分辨率光谱仪包括：入射狭缝，布置用于接收入射光束；准直装置，布置用于对来自入射狭缝的光束进行准直；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的光束进行分色，以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，所述成像装置布置用于将所述多个子光束分别成像在所述阵列式光子探测器上，所述阵列式光子探测器用于将成像到其上的多个子光束的光信号转换成电信号，所述电信号用于形成光谱图，其中，所述入射狭缝具有第一狭缝部分和第二狭缝部分，所述第二狭缝部分具有比第一狭缝部分更大的宽度。
-
公开(公告)号：CN107860761B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201711439073.0
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明的实施例提供了一种拉曼光谱检测设备以及一种用于拉曼光谱检测的样品安全性检测方法。该拉曼光谱检测设备包括：激发光光源，配置成向待测样品发射激发光；光学装置，所述光学装置具有光谱检测光路和样品成像光路，所述光谱检测光路配置成收集来自所述待测样品被激发光照射的位置的光信号，所述样品成像光路配置成拍摄所述待测样品的图像；光谱仪，配置成接收来自所述光谱检测光路的光信号并由所述光信号生成待测样品的拉曼光谱；以及样品安全性判别装置，配置成基于由所述样品成像光路拍摄的所述待测样品的图像来确定待测样品的安全性。
-
公开(公告)号：CN107991286A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711442674.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本申请为基于反射光功率的拉曼光谱检测设备及方法，公开了一种检测设备。检测设备包括：激光器，其配置成向待检测的物体发射激光；拉曼光谱仪，其配置成接收来自所述物体的拉曼光信号；光传感器，其配置成用于接收因受激光照射而由所述物体反射和散射的光，并确定其所接收到的光的功率；和控制器，其配置成基于光传感器确定的功率控制检测设备的操作。此外，本申请还公开了一种使用上述检测设备进行检测的方法。
-
公开(公告)号：CN106525240B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201611247477.5
申请日：2016-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明的实施例提供了一种光谱探测装置，包括：激光源；聚焦透镜，布置用于将光束会聚至待测样品上；光束收集装置，布置用于收集待测样品被光束激发的光束信号以形成收集光束并将其进行会聚以形成长条形光斑；狭缝，布置用于接收经过光束收集装置会聚的收集光束并将收集光束向光路的下游耦合；准直装置；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的收集光束进行分色以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，成像装置布置用于将子光束分别成像在阵列式光子探测器上，其中，由激光源发出的光束具有矩形的横截面，聚焦透镜是柱面透镜，长条形光斑照射到狭缝上且长度小于狭缝的长度以使长条形光斑在长度方向上能够完全落入狭缝。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107991285A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711442583.3
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明的实施例提供了一种测试对象安全性检测方法和设备。所述方法包括：将激发光引导至待测样品并收集来自所述待测样品的第一光信号并由所述第一光信号生成第一光谱；在预定时间间隔后再次将激发光引导至所述待测样品并收集来自所述待测样品的第二光信号并由所述第二光信号生成第二光谱；以及将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏。
-
公开(公告)号：CN107991284A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711439074.5
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/4412 , G01J5/0003 , G01N21/01 , G01N2201/06113 , G01N2201/063 , G02B27/141 , G05B19/4065 , G05B2219/49353
Abstract: 本发明的实施例提供了拉曼光谱检测设备及其检测安全性的监控方法。该拉曼光谱检测设备包括：光学装置，用于将所述激发光引导至样品和收集来自所述样品的光信号；光谱仪，用于对由光学装置收集的光信号进行分光以生成被检测的样品的拉曼光谱；以及安全监控器，被配置成在来自激光器的激发光照射样品期间监测样品的安全状态并提供表征样品是否由于激发光照射而受到损坏的安全指示信号。
-
公开(公告)号：CN106769898A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611249038.8
申请日：2016-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/255
Abstract: 本发明的实施例提供了一种多分辨率光谱仪。该多分辨率光谱仪包括：入射狭缝，布置用于接收入射光束；准直装置，布置用于对来自入射狭缝的光束进行准直；色散装置，布置用于对经过准直装置准直的光束进行分色，以形成具有不同波长的多个子光束；成像装置和阵列式光子探测器，所述成像装置布置用于将所述多个子光束分别成像在所述阵列式光子探测器上，所述阵列式光子探测器用于将成像到其上的多个子光束的光信号转换成电信号，所述电信号用于形成光谱图，其中，所述入射狭缝具有第一狭缝部分和第二狭缝部分，所述第二狭缝部分具有比第一狭缝部分更大的宽度。
-
-
公开(公告)号：CN107907527B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201711442749.1
申请日：2017-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/65
Abstract: 本申请公开了一种检测设备，包括：激光器，其配置成向待检测的物体发射激光；拉曼光谱仪，其配置成接收来自所述物体的拉曼光；成像装置，其配置成用于获取所述物体的图像；光传感器，其配置成用于接收因受激光照射而由所述物体反射和散射的光，并确定其所接收到的光的功率；和控制器，其配置成基于所述成像装置获取的图像以及所述光传感器确定的功率控制所述检测设备的操作。本申请还公开了使用上述检测设备进行检测的方法。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
38
records
(took 0.027 seconds)
