公开(公告)号：CN119181026A

公开(公告)日：2024-12-24

申请号：CN202411700034.1

申请日：2024-11-26

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 涂兵 ,  刘民生 ,  刘博 ,  李军 ,  方乐缘 ,  陈云云 ,  曹兆楼 ,  贺燕 ,  刘立成

IPC: G06V20/10 ,  G06V10/26 ,  G06V10/44 ,  G06V10/54 ,  G06V10/74 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06N3/044 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了高光谱图像技术领域的一种高光谱图像变化检测方法、装置及存储介质，方法包括：对高光谱图像进行特征提取，得到空间特征图和光谱特征图，聚合空间特征图和光谱特征图获得融合特征图；对双时相高光谱图像进行分割，生成超像素标签图，将超像素标签图投影到所述融合特征图中，形成超像素特征图，根据所述超像素特征图构建拓扑图；将拓扑图中的节点特征向量和邻接矩阵输入KAN‑GAT网络，获得节点嵌入向量；对节点嵌入向量进行相似性度量找出变化节点，通过超像素标签图检测出超像素特征图变化的超像素区域，生成像素级别的变化区域显示。本发明能够解决传统的差异度量方法导致误检率和漏检率增加的技术问题。