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公开(公告)号：CN118259130A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410537751.0
申请日：2024-04-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种基于开通延时阶段栅压积分的IGBT结温检测系统及方法，属于电力电子领域。该系统包括：驱动芯片及与之连接的结温计算单元；结温计算单元输出PWM信号至驱动芯片；驱动芯片包括结温检测模块和驱动模块；驱动模块用于放大输入的PWM信号，产生输出电流输出至待测IGBT，控制待测IGBT的开启和关断；结温检测模块在待测IGBT的开通延时阶段，获取待测IGBT的栅极电压并进行积分；结温计算单元还接受结温检测模块输出的栅极电压积分，并根据结温标定实验得到的栅极电压积分‑结温的函数模型，实时得到结温检测结果。提高了检测灵敏度，实现对IGBT结温的实时检测。
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