公开(公告)号：CN104101444B

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201410287591.5

申请日：2014-06-24

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 刘文中 ,  皮仕强 ,  毛文平 ,  何乐 ,  张朴

IPC: G01K7/36 ,  G06F19/00

Abstract: 本发明公开一种基于磁纳米磁化强度的温度测量方法，其主要创新在于考虑了磁纳米试剂粒径分布对温度测量的影响，实现了在未知磁纳米粒径分布的情况下的温度精确测量。当对磁纳米试剂施加直流磁场时，检测不同磁场强度激励下的磁化强度信号；利用磁纳米粒子磁化强度与温度、浓度以及粒径高阶矩的关系式精确求解出温度。当对磁纳米试剂施加交流磁场时，采集交流磁化强度信号，检测出一、三次谐波幅值；利用交流磁化强度一、三次谐波幅值与温度、浓度以及粒径高阶矩的关系式精确求解出温度。本发明对基于单一粒径的基于磁纳米磁化强度的温度测量方法进行了优化和改进。从实验数据来看，磁纳米温度测量优化方法的温度误差小于0.2K。

公开(公告)号：CN103156581A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201310065896.7

申请日：2013-03-01

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 张朴 ,  钟景 ,  刘文中 ,  李寅 ,  何乐 ,  杜中州 ,  洪俊

IPC: A61B5/01

CPC classification number: A61B5/01 ,  A61B5/0515 ,  G01K7/36 ,  G01K13/002 ,  G06F17/16

Abstract: 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化强度的在体温度测量方法，属于纳米测试技术领域。本发明将磁纳米试剂置放于待测对象处，对磁纳米试剂所在区域施加交流激励磁场，采集交流激励磁场作用下磁纳米试剂的交流磁化强度，检测出交流磁化强度信号中各奇次谐波幅值，最后根据谐波和温度的关系式计算在体温度。本发明通过离散化朗之万函数和傅里叶变换预先建立各奇次谐波分量与在体温度关系式，通过该关系式求解在体温度，求解过程中无需考虑磁纳米粒子浓度信息及其有效磁矩随温度变化情况，便可实现在体温度的准确检测。

公开(公告)号：CN203465406U

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201320571511.X

申请日：2013-09-13

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 皮仕强 ,  何乐 ,  余尚儒 ,  郭斯琳

IPC: G01R33/02 ,  G01R33/07

Abstract: 本实用新型公开了一种梯度磁场中零磁场点位置的检测装置，该检测装置包括由第一部分和第二部分构成的印刷电路板，所述印刷电路板的第一部分的平面上阵列式分布有磁开关形成磁开关阵列，所述印刷电路板的第二部分的平面上阵列式分布有发光二极管形成发光二极管阵列，所述磁开关与所述发光二极管的数量相同，所述磁开关阵列中的磁开关与所述发光二级管阵列中对应位置处的发光二极管分别串联连接。通过上述检测装置可以方便、直观的观测梯度磁场中零磁场点的区域分布。