公开(公告)号：CN118011173A

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202410229866.3

申请日：2024-02-29

Applicant: 华东交通大学 ,  北京全路通信信号研究设计院集团有限公司 ,  中南大学

Inventor： 张坤鹏 ,  彭文杰 ,  杨辉 ,  彭涛 ,  杨超 ,  徐宗奇 ,  江明 ,  于晓泉 ,  安春兰

IPC: G01R31/26 ,  G06F17/11

Abstract: 本发明公开了一种列车IGBT寿命评估方法、装置、设备及介质，包括：对目标列车中的IGBT器件进行加速老化实验，获取IGBT器件在老化过程中对应的运行数据集；根据结温预测公式以及运行数据集，确定IGBT器件在不同工况下对应的结温，根据结温建立IGBT器件对应的寿命模型；根据寿命模型以及改进粒子滤波算法，建立IGBT器件对应的预测方程；根据预测方程以及IGBT器件的当前运行参数，预测IGBT器件的剩余使用寿命。本发明实施例的技术方案可以降低IGBT器件寿命预测方法的复杂性，提高预测方法的便捷性以及预测结果的准确性。