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公开(公告)号:CN104572326A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410789605.3
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/07
Abstract: 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法,针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题,提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下,基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据,然后将两者逐位进行比较,通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障,最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复,提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性,推动了SoPC芯片的发展。
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公开(公告)号:CN107423397B
公开(公告)日:2020-05-19
申请号:CN201710619530.8
申请日:2017-07-26
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F16/13 , G06F16/174
Abstract: 本发明涉及一种面向多任务微系统的自适应压缩存储及解压提取方法,压缩过程中对读入的原始任务文件的数据,进行稀疏性分析,当数组的稀疏性大于等于90%时,采用改进三元法对原始任务文件的数据进行压缩;当数组的稀疏性小于90%时,采用改进Huffman方法进行压缩;解压缩过程中,读取待解压缩文件的第一个字节,如果标识为1,则执行改进三元法解压算法进行解压操作,如果标识为2,不为1,则执行改进的Huffman解压算法进行解压操作。本发明最大限度地节省了存储空间,多任务文件压缩过程中需要更大的存储空间,对于存储空间要求的降低,使的文件存储数量增加,能够执行多任务存储,解决了多个任务的任务文件存储受限的问题。
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公开(公告)号:CN104572326B
公开(公告)日:2017-12-01
申请号:CN201410789605.3
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/07
Abstract: 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法,针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题,提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下,基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据,然后将两者逐位进行比较,通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障,最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复,提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性,推动了SoPC芯片的发展。
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公开(公告)号:CN104459518A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410706874.9
申请日:2014-11-27
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种基于SoPC芯片的功能性测试系统及其测试方法,该系统包括串行通信接口测试模块、I2C测试模块、中断处理测试模块、定时器测试模块、计数器测试模块、总线测试模块、模拟开关/ADC测试模块、GPIO测试模块、FPGA配置模块、通信模块和测试控制模块;本发明的自动化测试方法在同一个测试系统中,按照测试需求在一个测试程序中完成SoPC芯片的各个功能模块的测试,避免了传统测试方法中对同一个SoPC芯片不同功能进行测试时,针对各测试项目返回进行编译,可有效缩短测试时间,并降低测试难度和测试操作复杂度。
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