一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法

    公开(公告)号:CN104572326A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410789605.3

    申请日:2014-12-18

    Abstract: 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法,针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题,提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下,基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据,然后将两者逐位进行比较,通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障,最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复,提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性,推动了SoPC芯片的发展。

    一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法

    公开(公告)号:CN104572326B

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201410789605.3

    申请日:2014-12-18

    Abstract: 一种基于回读自重构的SoPC芯片容错方法,针对传统的辐射加固的FPGA在太空中每天会发生多次粒子翻转的问题,提供了一种在不增加SoPC芯片面积的前提下,基于回读自重构的方式实现芯片的自主故障检测及故障修复的方法。本发明方法首先读取FPGA配置存储器中的配置数据和Flash中存储的原始配置数据,然后将两者逐位进行比较,通过比较文件格式上的差异能够验证回读的配置数据是否发生了故障并定位故障,最后根据原始配置文件将故障纠正。本发明方法在不增加外围检测设备和检测电路的情况下完成了故障检测、故障判读、故障修复,提高了SoPC芯片在外太空环境应用中的可靠性,推动了SoPC芯片的发展。

Patent Agency Ranking